一种半导体激光器巴条的器件性能测量装置

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	一种半导体激光器巴条的器件性能测量装置
其他题名	一种半导体激光器巴条的器件性能测量装置
	周旻超; 吴涛; 李江
	2014-06-04
专利权人	中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
公开日期	2014-06-04
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型公开了一种半导体激光器巴条的器件性能测量装置，包括快轴准直微透镜，所述快轴准直微透镜前面设置有分光板，所述分光板的两侧分别设置有巴条弯曲度及近场光强分布测试模块和巴条空间光谱分布测试模块，所述巴条弯曲度及近场光强分布测试模块和所述巴条空间光谱分布测试模块都和计算机连接。采用本实用新型技术方案，操作简单，测试效率非常高；可以对半导体激光器巴条的散热性能和封装引入的应力进行全面分析；不仅对半导体激光巴条的性能分析和封装技术的改进有着非常重要的意义，而且其功能集成度高和测试效率高的优点适用于大规模的生产。
其他摘要	本实用新型公开了一种半导体激光器巴条的器件性能测量装置，包括快轴准直微透镜，所述快轴准直微透镜前面设置有分光板，所述分光板的两侧分别设置有巴条弯曲度及近场光强分布测试模块和巴条空间光谱分布测试模块，所述巴条弯曲度及近场光强分布测试模块和所述巴条空间光谱分布测试模块都和计算机连接。采用本实用新型技术方案，操作简单，测试效率非常高；可以对半导体激光器巴条的散热性能和封装引入的应力进行全面分析；不仅对半导体激光巴条的性能分析和封装技术的改进有着非常重要的意义，而且其功能集成度高和测试效率高的优点适用于大规模的生产。
主权项	一种半导体激光器巴条的器件性能测量装置，其特征在于，包括快轴准直微透镜（1），所述快轴准直微透镜（1）前面设置有分光板（2），所述分光板（2）的两侧分别设置有巴条弯曲度及近场光强分布测试模块和巴条空间光谱分布测试模块，所述巴条弯曲度及近场光强分布测试模块和所述巴条空间光谱分布测试模块都和计算机（11）连接。
申请日期	2013-12-11
专利号	CN203629792U
专利状态	授权
申请号	CN201320811262
公开（公告）号	CN203629792U
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	曹毅
代理机构	南京经纬专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/46733
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	周旻超,吴涛,李江. 一种半导体激光器巴条的器件性能测量装置. CN203629792U[P]. 2014-06-04.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN203629792U.PDF（958KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文