双色激光磨矿粒度在线分析仪

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	双色激光磨矿粒度在线分析仪
其他题名	双色激光磨矿粒度在线分析仪
	郝成; 杨志刚; 王建民
	2014-09-03
专利权人	河北联合大学
公开日期	2014-09-03
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型涉及激光粒度仪，具体为一种双色激光磨矿粒度在线分析仪，依次包括发射单元、光学系统、接收单元、信号处理和控制单元；发射单元包括两个红外半导体激光二极管，分别为平行放置的红外半导体激光二极管和垂直放置的红外半导体激光二极管；平行放置的红外半导体激光二极管发出的光线从直角棱镜的一个直角面进入、从斜面射出，垂直放置的红外半导体激光二极管发出的光线从直角棱镜的斜面反射，两个红外半导体激光二极管发出的光线在直角棱镜的斜面上汇合，再依次经过样品池和傅立叶成像透镜。本实用新型提供的双色激光磨矿粒度在线分析仪，由于不需要对信噪比低部分的光信号的数据采集，简化了光学系统结构，降低了成本。
其他摘要	本实用新型涉及激光粒度仪，具体为一种双色激光磨矿粒度在线分析仪，依次包括发射单元、光学系统、接收单元、信号处理和控制单元；发射单元包括两个红外半导体激光二极管，分别为平行放置的红外半导体激光二极管和垂直放置的红外半导体激光二极管；平行放置的红外半导体激光二极管发出的光线从直角棱镜的一个直角面进入、从斜面射出，垂直放置的红外半导体激光二极管发出的光线从直角棱镜的斜面反射，两个红外半导体激光二极管发出的光线在直角棱镜的斜面上汇合，再依次经过样品池和傅立叶成像透镜。本实用新型提供的双色激光磨矿粒度在线分析仪，由于不需要对信噪比低部分的光信号的数据采集，简化了光学系统结构，降低了成本。
主权项	一种双色激光磨矿粒度在线分析仪，依次包括发射单元、光学系统、接收单元、信号处理和控制单元；其特征在于：所述的发射单元包括两个红外半导体激光二极管，分别为平行放置的红外半导体激光二极管和垂直放置的红外半导体激光二极管；所述的光学系统依次包括直角棱镜、样品池和傅立叶成像透镜；平行放置的红外半导体激光二极管发出的光线从直角棱镜的一个直角面进入、从斜面射出，垂直放置的红外半导体激光二极管发出的光线从直角棱镜的斜面反射，两个红外半导体激光二极管发出的光线在直角棱镜的斜面上汇合，再依次经过样品池和傅立叶成像透镜；所述的接收单元为CCD图像传感器，接受傅立叶成像透镜透射出的光线，并传输给信号处理和控制单元。
申请日期	2014-05-13
专利号	CN203811510U
专利状态	失效
申请号	CN201420242979.9
公开（公告）号	CN203811510U
IPC 分类号	G01N15/02
专利代理人	张云和
代理机构	唐山永和专利商标事务所
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45477
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	河北联合大学
推荐引用方式 GB/T 7714	郝成,杨志刚,王建民. 双色激光磨矿粒度在线分析仪. CN203811510U[P]. 2014-09-03.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN203811510U.PDF（210KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文