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TDLAS中激光波长检测控制装置及其控制方法
其他题名TDLAS中激光波长检测控制装置及其控制方法
韩国华; 翟爱平; 李国辉; 刘嘉诚; 张超
2015-07-29
专利权人太原理工大学
公开日期2015-07-29
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要一种TDLAS中激光波长检测控制装置及其控制方法,所述装置是近红外DFB半导体激光器输入信号由偏振控制器后单模光纤耦合器,氦氖激光器输入信号通过偏振控制器后单模光纤耦合器,进入压电陶瓷光纤拉伸器及滤波后由光电探测器接收输出给近红外DFB半导体激光器波长测量和电流控制器;所述方法是由双波长光纤迈克耳逊干涉仪结构和通过光纤压电陶瓷拉伸器实现光纤臂长差调制,利用光电探测器探测光纤端面菲涅耳反射干涉信号和通过相位调制度测量实现激光波长快速检测,通过控制近红外DFB半导体激光器偏置电流实现输出波长的稳定。本发明克服了TDLAS系统中红外DFB半导体激光器存在慢漂和跳模现象,应用于激光大气测量,工业燃烧测量控制等激光测量领域。
其他摘要一种TDLAS中激光波长检测控制装置及其控制方法,所述装置是近红外DFB半导体激光器输入信号由偏振控制器后单模光纤耦合器,氦氖激光器输入信号通过偏振控制器后单模光纤耦合器,进入压电陶瓷光纤拉伸器及滤波后由光电探测器接收输出给近红外DFB半导体激光器波长测量和电流控制器;所述方法是由双波长光纤迈克耳逊干涉仪结构和通过光纤压电陶瓷拉伸器实现光纤臂长差调制,利用光电探测器探测光纤端面菲涅耳反射干涉信号和通过相位调制度测量实现激光波长快速检测,通过控制近红外DFB半导体激光器偏置电流实现输出波长的稳定。本发明克服了TDLAS系统中红外DFB半导体激光器存在慢漂和跳模现象,应用于激光大气测量,工业燃烧测量控制等激光测量领域。
主权项一种TDLAS中激光波长检测控制装置,包括近红外DFB半导体激光器、氦氖激光器、光隔离器、单模光纤耦合器、压电陶瓷光纤拉伸器、光滤波片、光电探测器和波长检测控制器;其特征在于: 所述近红外DFB半导体激光器(1)的信号通过第一光隔离器(3)输入到第一单模光纤耦合器(5); 所述氦氖激光器(2)的信号通过第二光隔离器(4)输入到第一单模光纤耦合器(5); 所述第一单模光纤耦合器(5)输出光进入第二单模光纤耦合器(6),第二单模光纤耦合器(6)的输出臂上缠绕有第一压电陶瓷光纤拉伸器(7)与第二压电陶瓷光纤拉伸器(8); 其中,第二压电陶瓷光纤拉伸器(8)由正弦信号调制器(14)对光纤输出臂的长度差进行调制;第二单模光纤耦合器(6)两输出臂的端面菲涅耳反射光输入给第三单模光纤耦合器(9),第三单模光纤耦合器(9)的两个输出臂分别通过近红外光滤波片(10)与可见光滤波片(11)输出给第一光电探测器(12)与第二光电探测器(13),并由第一光电探测器(12)与第二光电探测器(13)接收后输出给近红外DFB半导体激光器波长测量和电流控制器(15),构成TDLAS中激光波长检测控制装置。
申请日期2013-07-04
专利号CN103344607B
专利状态授权
申请号CN201310278877.2
公开(公告)号CN103344607B
IPC 分类号G01N21/39 | G01N21/01
专利代理人戎文华
代理机构太原科卫专利事务所(普通合伙)
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45330
专题半导体激光器专利数据库
作者单位太原理工大学
推荐引用方式
GB/T 7714
韩国华,翟爱平,李国辉,等. TDLAS中激光波长检测控制装置及其控制方法. CN103344607B[P]. 2015-07-29.
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