Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
非接触式激光调频光纤位移测量仪 | |
其他题名 | 非接触式激光调频光纤位移测量仪 |
田芊; 徐左; 李达成; 谢巍 | |
1991-07-24 | |
专利权人 | 清华大学 |
公开日期 | 1991-07-24 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 授权发明 |
摘要 | 一种非接触式激光调频光纤位移测量仪,属于机械精密测量领域,特别是属于对位移量、振动的精密测量。本发明采用半导体激光光源,光束经锯齿波调制,由光纤传输,通过参考光与探测光的相位比较得到位移量。本发明体积小、重量轻,线性动态范围大,可抗电磁干扰和抗振动,精度达0.04μm,可用于静态或动态测量,测量结果可数字化处理,便于与计算机联网。 |
其他摘要 | 一种非接触式激光调频光纤位移测量仪,属于机械精密测量领域,特别是属于对位移量、振动的精密测量。本发明采用半导体激光光源,光束经锯齿波调制,由光纤传输,通过参考光与探测光的相位比较得到位移量。本发明体积小、重量轻,线性动态范围大,可抗电磁干扰和抗振动,精度达0.04μm,可用于静态或动态测量,测量结果可数字化处理,便于与计算机联网。 |
主权项 | 一种非接触式激光调频光纤位移测量仪由半导体激光器、激光调频电源、耦合透镜、光纤、光纤定向耦合器、光电探测器等部件所组成,其特征在于还包括光纤测头,相位检测器,由所说的激光调频电源,对所说的半导体激光器进行调制,发出一束调频的激光,经所说的耦合透镜进入光纤,再由所说的光纤定向耦合器分成探测光和解调参考光,所说的探测光的一部分从所说的光纤测头端面射出,出射光射到被测物上被测物上被反射回该测头,所说探测光的另一部分直接从所说的光纤测头端面反射,这两部分光形成干涉,并有一个被测距离为1的光程差由所说的光电探测器接收,再送入相位检测器检测。 |
申请日期 | 1988-11-03 |
专利号 | CN1013304B |
专利状态 | 失效 |
申请号 | CN88107425.X |
公开(公告)号 | CN1013304B |
IPC 分类号 | G01B11/02 |
专利代理人 | 廖元秋 |
代理机构 | 清华大学专利事务所 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45188 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 清华大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 田芊,徐左,李达成,等. 非接触式激光调频光纤位移测量仪. CN1013304B[P]. 1991-07-24. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN1013304B.PDF(248KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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