高功率半导体激光器模块的检测装置和方法

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	高功率半导体激光器模块的检测装置和方法
其他题名	高功率半导体激光器模块的检测装置和方法
	辛国锋; 瞿荣辉; 蔡海文; 方祖捷; 陈高庭; 沈力; 皮浩洋
	2012-02-15
专利权人	中国科学院上海光学精密机械研究所
公开日期	2012-02-15
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	一种高功率半导体激光器模块的测试装置和方法，该装置包括测试棒、测试棒固定夹具、聚焦透镜、导光光纤和探测器，所述的测试棒是由一端具有45°斜截面并镀有对激光二极管波长的高反膜，另一端截面为正圆面的两根结构相同的透明材料棒且所述的斜截面相对共轴胶合而成，测试棒置于所述的测试棒固定夹具上，在所述的测试棒的一端或两端外设置所述的聚焦透镜，所述的导光光纤的一端位于所述的聚焦透镜的焦点，另一端接所述的探测器的输入端。本发明适于半圆环形或圆环形的封装结构的高功率半导体激光器模块的测量，具有结构简单和测试操作方便的优点。
其他摘要	一种高功率半导体激光器模块的测试装置和方法，该装置包括测试棒、测试棒固定夹具、聚焦透镜、导光光纤和探测器，所述的测试棒是由一端具有45°斜截面并镀有对激光二极管波长的高反膜，另一端截面为正圆面的两根结构相同的透明材料棒且所述的斜截面相对共轴胶合而成，测试棒置于所述的测试棒固定夹具上，在所述的测试棒的一端或两端外设置所述的聚焦透镜，所述的导光光纤的一端位于所述的聚焦透镜的焦点，另一端接所述的探测器的输入端。本发明适于半圆环形或圆环形的封装结构的高功率半导体激光器模块的测量，具有结构简单和测试操作方便的优点。
主权项	利用高功率半导体激光器模块的测试装置进行测试的方法，特征在于所述的高功率半导体激光器模块的测试装置包括测试棒、测试棒固定夹具、聚焦透镜、导光光纤和探测器，所述的测试棒是由一端具有45°斜截面并镀有对激光二极管波长的高反膜，另一端截面为正圆面的两根结构相同的透明材料棒且所述的斜截面相对共轴胶合而成，测试棒置于所述的测试棒固定夹具上，在所述的测试棒的一端或两端外设置所述的聚焦透镜，所述的导光光纤的一端位于所述的聚焦透镜的焦点，另一端接所述的探测器的输入端，所述的探测器为光谱仪或功率计，该方法包括下列步骤： ①所述的高功率半导体激光器模块是由多个半导体激光二极管封装成发光指向轴心的圆环或半圆环的高功率半导体激光器模块，将所述的测试棒穿过待测的圆环或半圆环的高功率半导体激光器模块并固定在测试棒固定夹具上，调节好测试光路； ②启动所述的高功率半导体激光器模块的电源，与所述的测试棒斜截面相对的半导体激光二极管发出的光经所述的测试棒斜截面反射后沿测试棒的轴向出射，由所述的聚焦透镜聚焦，经导光光纤输入到光谱仪或功率计进行波长或功率检测； ③驱使所述的测试棒绕其轴线旋转，使所述的测试棒的斜截面与所述的圆环或半圆环的高功率半导体激光器模块的半导体激光二极管一一地相对，所述的光谱仪或功率计依次记录与所述的测试棒斜截面相对的半导体激光二极管发射的激光波长或激光功率，当所述的测试棒绕其轴线旋转一周，即完成一个圆环或半圆环的高功率半导体激光器模块的测试； ④重复步骤①②③就可以完成对另一个圆环或半圆环的激光器模块的测试； ⑤对测试结果进行分析比较，根据需要对所测试的圆环或半圆环的高功率半导体激光器模块进行筛选。
申请日期	2010-05-21
专利号	CN101839771B
专利状态	失效
申请号	CN201010182393.4
公开（公告）号	CN101839771B
IPC 分类号	G01J9/00 \| G01J1/00
专利代理人	张泽纯
代理机构	上海新天专利代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45176
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院上海光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	辛国锋,瞿荣辉,蔡海文,等. 高功率半导体激光器模块的检测装置和方法. CN101839771B[P]. 2012-02-15.

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CN101839771B.PDF（450KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文