半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置

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	半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置
其他题名	半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置
	赵英杰; 张永明; 钟景昌; 李梅; 赵宇斯; 郝永芹; 晏长岭; 苏伟; 李林; 姜晓光
	2007-02-07
专利权人	长春理工大学
公开日期	2007-02-07
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置属于半导体激光器器件可靠性参数测试技术领域。相关的现有技术存在温度梯度大、加热惯性大等弊端，使得所确认的被测器件温度与实际温度相差较大；又由于光电探测器件在保温箱内一同被加热，从而使其处在非正常工作条件下，探测结果受到影响。本发明之装置采用液态导热媒质通过对流传递热量，在加热棒和被测器件之间安放控温传感器控温，在被测器件附近安放精密温度探测器测温，将光电探测器件安装在保温箱外部。通过这些措施可以克服现有技术的不足。本发明可应用于包括特征温度在内的半导体激光器各种参数的测试。
其他摘要	半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置属于半导体激光器器件可靠性参数测试技术领域。相关的现有技术存在温度梯度大、加热惯性大等弊端，使得所确认的被测器件温度与实际温度相差较大；又由于光电探测器件在保温箱内一同被加热，从而使其处在非正常工作条件下，探测结果受到影响。本发明之装置采用液态导热媒质通过对流传递热量，在加热棒和被测器件之间安放控温传感器控温，在被测器件附近安放精密温度探测器测温，将光电探测器件安装在保温箱外部。通过这些措施可以克服现有技术的不足。本发明可应用于包括特征温度在内的半导体激光器各种参数的测试。
主权项	一种半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置，在保温箱内装有加热棒，被测器件也放置在保温箱内，用温度传感器探测被测器件温度和控制箱内温度，用光电探测器件探测被测器件在不同温度下的工作状况，其特征在于，在所述的封闭保温箱(10)内充满导热媒质(11)，所述加热棒(12)安放在保温箱(10)内一侧下部，在加热棒(12)的上方装有被称为控温传感器(13)的所述温度传感器，另外，在保温箱(10)内上部中心部位设置一个被称为精密温度探测器(14)的所述温度传感器，由保持架(15)将所述被测器件(16)的被加热部分保持在精密温度探测器(14)上方的导热媒质(11)中，保持架(15)中空，以导出被测器件(16)发出的激光束，安放在保温箱(10)外部上方的被称为光电探测器(17)的所述光电探测器件对准被导出的激光束实现光电探测。
申请日期	2004-09-09
专利号	CN1299408C
专利状态	失效
申请号	CN200410074308.7
公开（公告）号	CN1299408C
IPC 分类号	H01S5/00 \| G01R31/26 \| H01L21/66 \| G01M11/00 \| G01R31/00
专利代理人	曲博
代理机构	中国兵器工业集团公司专利中心
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/44739
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	长春理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	赵英杰,张永明,钟景昌,等. 半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置. CN1299408C[P]. 2007-02-07.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN1299408C.PDF（527KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文