一种半导体激光器光束质量测试装置及其测试方法

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	一种半导体激光器光束质量测试装置及其测试方法
其他题名	一种半导体激光器光束质量测试装置及其测试方法
	李军; 席道明; 陈云; 马永坤; 吕艳钊; 魏皓
专利权人	江苏天元激光科技有限公司
公开日期	2019-01-11
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	一种半导体激光器光束质量测试装置及其测试方法，其特征在于：所述的激光夹具（10）用于固定半导体激光器的尾纤，光阑（20）置于激光夹具（10）后合适位置，光阑（20）上的通光孔径对传输激光进行控制；功率接收器（30）置于光阑（20）后，探测经光阑（20）输出的激光功率值；滑轨（40）用于控制光阑（20）水平位置的移动，电脑控制端（50）采集光阑（20）的前后移动，由功率接收器（30）探测到的功率值并进行分析对比，实现高光束质量激光器的筛选。本发明，有利于实现高光束质量的半导体激光器的筛选，具有调试方便，测试效率高等优点。该测试装置有利于实现客户对高光束质量的半导体激光器一致性的需求。
其他摘要	一种半导体激光器光束质量测试装置及其测试方法，其特征在于：所述的激光夹具（10）用于固定半导体激光器的尾纤，光阑（20）置于激光夹具（10）后合适位置，光阑（20）上的通光孔径对传输激光进行控制；功率接收器（30）置于光阑（20）后，探测经光阑（20）输出的激光功率值；滑轨（40）用于控制光阑（20）水平位置的移动，电脑控制端（50）采集光阑（20）的前后移动，由功率接收器（30）探测到的功率值并进行分析对比，实现高光束质量激光器的筛选。本发明，有利于实现高光束质量的半导体激光器的筛选，具有调试方便，测试效率高等优点。该测试装置有利于实现客户对高光束质量的半导体激光器一致性的需求。
申请日期	2018-10-24
专利号	CN109186757A
专利状态	申请中
申请号	CN201811243247.0
公开（公告）号	CN109186757A
IPC 分类号	G01J1/42 \| G01M11/00
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/43356
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	江苏天元激光科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	李军,席道明,陈云,等. 一种半导体激光器光束质量测试装置及其测试方法. CN109186757A.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN109186757A.PDF（217KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文