一种基于波长调制技术的气态元素汞浓度检测装置

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	一种基于波长调制技术的气态元素汞浓度检测装置
其他题名	一种基于波长调制技术的气态元素汞浓度检测装置
	娄秀涛; 林宏泽; 王俊楠; 万莉; 何赛灵
	2017-03-22
专利权人	苏州瑞蓝环保科技有限公司
公开日期	2017-03-22
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型公开了一种基于波长调制技术的气态元素汞浓度检测装置，包括：偏硼酸钡晶体、凸透镜、三棱镜、红光半导体激光器、蓝光半导体激光器、二色向镜、消色差凸透镜、紫外高反镜、气室、光电倍增管、锁相放大器和信号控制分析器，所述信号控制分析器的电流与温度控制输出端分别连接所述红光半导体激光器和蓝光半导体激光器的电流与温度控制输入端。通过上述方式，本实用新型所述的基于波长调制技术的气态元素汞浓度检测装置，使用波长调制与锁相放大技术，将探测信号的频率转移到高频波段，从而降低了低频噪声的影响，提高了检测精度，对系统运算能力要求低，容易实现。
其他摘要	本实用新型公开了一种基于波长调制技术的气态元素汞浓度检测装置，包括：偏硼酸钡晶体、凸透镜、三棱镜、红光半导体激光器、蓝光半导体激光器、二色向镜、消色差凸透镜、紫外高反镜、气室、光电倍增管、锁相放大器和信号控制分析器，所述信号控制分析器的电流与温度控制输出端分别连接所述红光半导体激光器和蓝光半导体激光器的电流与温度控制输入端。通过上述方式，本实用新型所述的基于波长调制技术的气态元素汞浓度检测装置，使用波长调制与锁相放大技术，将探测信号的频率转移到高频波段，从而降低了低频噪声的影响，提高了检测精度，对系统运算能力要求低，容易实现。
授权日期	2017-03-22
申请日期	2016-08-23
专利号	CN206038530U
专利状态	授权
申请号	CN201620921262.6
公开（公告）号	CN206038530U
IPC 分类号	G01N21/39
专利代理人	徐萍
代理机构	苏州广正知识产权代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/43051
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	苏州瑞蓝环保科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	娄秀涛,林宏泽,王俊楠,等. 一种基于波长调制技术的气态元素汞浓度检测装置. CN206038530U[P]. 2017-03-22.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN206038530U.PDF（100KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文