工作状态下半导体激光器中电场分布的测量方法及装置

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	工作状态下半导体激光器中电场分布的测量方法及装置
其他题名	工作状态下半导体激光器中电场分布的测量方法及装置
	朱祖华
	1992-06-10
专利权人	浙江大学
公开日期	1992-06-10
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	连续波电光检测技术测量半导体激光器场分布的方法及装置：方法特征是探测激光垂直解理面透射处于工作状态的被测半导体激光器，其本身发出的激光经分离和/或滤去；装置特征是半导体激光器与检偏器间增设显微镜系统、分光和/或滤光装置，给半导体激光器设置可调偏置电流源。该装置可直接测量半导体激光器的场分布，确定其载流子限制、电流扩展特性，为设计和制作提供依据和监控。优点是非破坏无干扰，分辨率和灵敏度高。
其他摘要	连续波电光检测技术测量半导体激光器场分布的方法及装置：方法特征是探测激光垂直解理面透射处于工作状态的被测半导体激光器，其本身发出的激光经分离和/或滤去；装置特征是半导体激光器与检偏器间增设显微镜系统、分光和/或滤光装置，给半导体激光器设置可调偏置电流源。该装置可直接测量半导体激光器的场分布，确定其载流子限制、电流扩展特性，为设计和制作提供依据和监控。优点是非破坏无干扰，分辨率和灵敏度高。
授权日期	1992-06-10
申请日期	1991-02-26
专利号	CN1016998B
专利状态	失效
申请号	CN91101294.X
公开（公告）号	CN1016998B
IPC 分类号	G01J1/00 \| G01R29/14
专利代理人	崔勇才
代理机构	浙江大学专利代理事务所
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/42775
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	浙江大学
推荐引用方式 GB/T 7714	朱祖华. 工作状态下半导体激光器中电场分布的测量方法及装置. CN1016998B[P]. 1992-06-10.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN1016998B.PDF（257KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文