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エピタキシャルウェハおよび化合物半導体デバイス
其他题名エピタキシャルウェハおよび化合物半導体デバイス
寺嶋 一高; 津崎 卓司; 宇田川 隆
2005-12-02
专利权人昭和電工株式会社
公开日期2006-02-22
授权国家日本
专利类型授权发明
摘要【課題】 エピタキシャルウェハにおいて、緩衝層と、その上面に積層させる立方晶のIII 族窒化物半導体層との整合性をほぼ完全なものにできるようにする。 【解決手段】 この発明のエピタキシャルウェハ10は、立方晶の結晶基板1と、この結晶基板1上に形成した、一般構造式がBpGaqAs(0xGayInzNwM1-w 層(0≦x、y、z≦1、x+y+z=1、0
其他摘要要解决的问题:基本上完成缓冲层和立方III族氮化物半导体层之间的匹配,以堆叠在外延晶片的顶表面上。 本发明的外延晶片10包括立方晶体衬底1和形成在晶体衬底1上的晶体结构BpGa 。由< As(0 x Ga y y In z n N w M 1-w层(0≤x,y,z≤1,由符号M表示的氮化物半导体层3表示氮以外的V元素,其中x + y + z = 1,0
授权日期2005-12-02
申请日期1998-03-10
专利号JP3747125B2
专利状态失效
申请号JP1998057962
公开(公告)号JP3747125B2
IPC 分类号H01L | H01L29/812 | H01L29/20 | H01L21/02 | H01L33/16 | H01L21/20 | H01L33/00 | H01S | H01L21/338 | H01S5/323 | H01L33/12 | H01L33/32 | H01S5/00
专利代理人福田 武通 | 福田 賢三 | 福田 伸一
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41911
专题半导体激光器专利数据库
作者单位昭和電工株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
寺嶋 一高,津崎 卓司,宇田川 隆. エピタキシャルウェハおよび化合物半導体デバイス. JP3747125B2[P]. 2005-12-02.
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