一种利用双光栅测量微弱振动装置

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	一种利用双光栅测量微弱振动装置
其他题名	一种利用双光栅测量微弱振动装置
	郑志远; 范菁津; 邱文杰
	2016-09-14
专利权人	中国地质大学(北京)
公开日期	2016-09-14
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型公开了一种利用双光栅测量微弱振动装置，包括信号输出接口、数字显示器、蜂鸣器、音叉、激光信号接收器、动光栅、静光栅和半导体激光发生器；从半导体激光发生器发出激光信号，经静光栅和动光栅产生衍射条纹，投射到激光信号接收器；由于双光栅紧贴，激光束具有一定宽度故该光束能平行叠加，这样就直接而又简单地形成了光拍；音叉用于产生微弱振动；光源发出的光束经双光栅产生干涉衍射条纹，通过连续改变音叉的质量分布得到微弱位移量随音叉质量分布的变化曲线，从而得到准确的微弱振动位移量。本实用新型实现了对不同发生源产生的微弱振动和连续改变音叉质量分布得到的微弱振动的测量，具有适用范围广、操作简单和测量精度高的特点。
其他摘要	本实用新型公开了一种利用双光栅测量微弱振动装置，包括信号输出接口、数字显示器、蜂鸣器、音叉、激光信号接收器、动光栅、静光栅和半导体激光发生器；从半导体激光发生器发出激光信号，经静光栅和动光栅产生衍射条纹，投射到激光信号接收器；由于双光栅紧贴，激光束具有一定宽度故该光束能平行叠加，这样就直接而又简单地形成了光拍；音叉用于产生微弱振动；光源发出的光束经双光栅产生干涉衍射条纹，通过连续改变音叉的质量分布得到微弱位移量随音叉质量分布的变化曲线，从而得到准确的微弱振动位移量。本实用新型实现了对不同发生源产生的微弱振动和连续改变音叉质量分布得到的微弱振动的测量，具有适用范围广、操作简单和测量精度高的特点。
授权日期	2016-09-14
申请日期	2016-04-15
专利号	CN205580589U
专利状态	失效
申请号	CN201620314250.7
公开（公告）号	CN205580589U
IPC 分类号	G01H9/00
专利代理人	侯蔚寰
代理机构	北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41554
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国地质大学(北京)
推荐引用方式 GB/T 7714	郑志远,范菁津,邱文杰. 一种利用双光栅测量微弱振动装置. CN205580589U[P]. 2016-09-14.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN205580589U.PDF（122KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文