一种用于吸收光谱测量的无近似Voigt线型拟合方法

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	一种用于吸收光谱测量的无近似Voigt线型拟合方法
Alternative Title	一种用于吸收光谱测量的无近似Voigt线型拟合方法
	饶伟; 王广宇; 洪延姬; 宋俊玲
	2018-10-30
Rights Holder	中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
Date Available	2018-10-30
Country	中国
Subtype	授权发明
Abstract	本发明针对可调谐半导体激光吸收光谱技术中的线型拟合的关键环节，提供了一种没有任何近似步骤的Voigt线型拟合方法，从根本上消除了近似运算对线型拟合以及吸收光谱测量精度的影响。该方法包括Voigt线型计算步骤、Voigt线型函数偏导数计算步骤、最小二乘拟合步骤。第一步，利用初始化光谱参数和FFT方法计算Voigt线型函数；第二步，将Voigt线型函数对待拟合参数的偏导数转换为Gauss或Lorentz线型函数对该参数的偏导数，然后再利用FFT方法运算获得Voigt线型函数对该参数的偏导数；第三步，利用实际测量的Voigt线型曲线和最小二乘拟合算法进行Voigt线型拟合，根据优值函数判断最小二乘拟合运算结束，还是进入下一次迭代运算。
Other Abstract	本发明针对可调谐半导体激光吸收光谱技术中的线型拟合的关键环节，提供了一种没有任何近似步骤的Voigt线型拟合方法，从根本上消除了近似运算对线型拟合以及吸收光谱测量精度的影响。该方法包括Voigt线型计算步骤、Voigt线型函数偏导数计算步骤、最小二乘拟合步骤。第一步，利用初始化光谱参数和FFT方法计算Voigt线型函数；第二步，将Voigt线型函数对待拟合参数的偏导数转换为Gauss或Lorentz线型函数对该参数的偏导数，然后再利用FFT方法运算获得Voigt线型函数对该参数的偏导数；第三步，利用实际测量的Voigt线型曲线和最小二乘拟合算法进行Voigt线型拟合，根据优值函数判断最小二乘拟合运算结束，还是进入下一次迭代运算。
Copyright Date	2018-10-30
Application Date	2016-05-23
Patent Number	CN106053386B
Status	授权
Application Number	CN201610346509.0
Open (Notice) Number	CN106053386B
IPC Classification Number	G01N21/39
Patent Agent	谢磊
Agency	北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)
Document Type	专利
Identifier	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41418
Collection	半导体激光器专利数据库
Affiliation	中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
Recommended Citation GB/T 7714	饶伟,王广宇,洪延姬,等. 一种用于吸收光谱测量的无近似Voigt线型拟合方法. CN106053386B[P]. 2018-10-30.

Files in This Item:
File Name/Size	DocType	Version	Access	License
CN106053386B.PDF（873KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	Application Full Text

If you have any objections to this item, please fill out the form below and the administrator will contact you as soon as possible.
Content:
Email：	*
Institution:
Verification Code:	Refresh

Any comments and suggestions are welcomed.
Title:	*
Content:
Email：	*
Verification Code:	Refresh

中国科学院西安光学精密机械研究所机构知识库