一种用于吸收光谱测量的无近似Voigt线型拟合方法

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	一种用于吸收光谱测量的无近似Voigt线型拟合方法
其他题名	一种用于吸收光谱测量的无近似Voigt线型拟合方法
	饶伟; 王广宇; 洪延姬; 宋俊玲
	2018-10-30
专利权人	中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
公开日期	2018-10-30
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	本发明针对可调谐半导体激光吸收光谱技术中的线型拟合的关键环节，提供了一种没有任何近似步骤的Voigt线型拟合方法，从根本上消除了近似运算对线型拟合以及吸收光谱测量精度的影响。该方法包括Voigt线型计算步骤、Voigt线型函数偏导数计算步骤、最小二乘拟合步骤。第一步，利用初始化光谱参数和FFT方法计算Voigt线型函数；第二步，将Voigt线型函数对待拟合参数的偏导数转换为Gauss或Lorentz线型函数对该参数的偏导数，然后再利用FFT方法运算获得Voigt线型函数对该参数的偏导数；第三步，利用实际测量的Voigt线型曲线和最小二乘拟合算法进行Voigt线型拟合，根据优值函数判断最小二乘拟合运算结束，还是进入下一次迭代运算。
其他摘要	本发明针对可调谐半导体激光吸收光谱技术中的线型拟合的关键环节，提供了一种没有任何近似步骤的Voigt线型拟合方法，从根本上消除了近似运算对线型拟合以及吸收光谱测量精度的影响。该方法包括Voigt线型计算步骤、Voigt线型函数偏导数计算步骤、最小二乘拟合步骤。第一步，利用初始化光谱参数和FFT方法计算Voigt线型函数；第二步，将Voigt线型函数对待拟合参数的偏导数转换为Gauss或Lorentz线型函数对该参数的偏导数，然后再利用FFT方法运算获得Voigt线型函数对该参数的偏导数；第三步，利用实际测量的Voigt线型曲线和最小二乘拟合算法进行Voigt线型拟合，根据优值函数判断最小二乘拟合运算结束，还是进入下一次迭代运算。
授权日期	2018-10-30
申请日期	2016-05-23
专利号	CN106053386B
专利状态	授权
申请号	CN201610346509.0
公开（公告）号	CN106053386B
IPC 分类号	G01N21/39
专利代理人	谢磊
代理机构	北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41418
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
推荐引用方式 GB/T 7714	饶伟,王广宇,洪延姬,等. 一种用于吸收光谱测量的无近似Voigt线型拟合方法. CN106053386B[P]. 2018-10-30.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN106053386B.PDF（873KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文