一种重合度测量装置

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	一种重合度测量装置
其他题名	一种重合度测量装置
	商秋芳; 周玉堂; 王震; 张俊杰; 李永刚; 张忠武
	2014-03-05
专利权人	北京航天计量测试技术研究所
公开日期	2014-03-05
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型提供一种重合度精确测量的重合度测量装置。它在镜筒上方固定激光器安装座，大功率半导体激光器安装在激光器安装座上；在镜筒的前端、后端分别设置物镜前组、物镜后组；在物镜前组前方固定有激光器折转光管，在激光器折转光管上安装有三棱镜Ⅰ、三棱镜Ⅱ；在物镜后组后方依次设置分光棱镜Ⅰ、分光棱镜Ⅱ和目镜，在分光棱镜Ⅰ上方设置光电转换元件；在分光棱镜Ⅱ下方设置LED或小功率半导体激光器；准直分划板设置在LED或小功率半导体激光器出光口前，目镜分划板设置在目镜前。本实用新型能够实现测量距离至2000m的重合度精确测量，并能消减远距离、野外环境条件下环境光的干扰，实现远距离动态条件下双向角度的自动跟踪与测量。
其他摘要	本实用新型提供一种重合度精确测量的重合度测量装置。它在镜筒上方固定激光器安装座，大功率半导体激光器安装在激光器安装座上；在镜筒的前端、后端分别设置物镜前组、物镜后组；在物镜前组前方固定有激光器折转光管，在激光器折转光管上安装有三棱镜Ⅰ、三棱镜Ⅱ；在物镜后组后方依次设置分光棱镜Ⅰ、分光棱镜Ⅱ和目镜，在分光棱镜Ⅰ上方设置光电转换元件；在分光棱镜Ⅱ下方设置LED或小功率半导体激光器；准直分划板设置在LED或小功率半导体激光器出光口前，目镜分划板设置在目镜前。本实用新型能够实现测量距离至2000m的重合度精确测量，并能消减远距离、野外环境条件下环境光的干扰，实现远距离动态条件下双向角度的自动跟踪与测量。
授权日期	2014-03-05
申请日期	2013-09-09
专利号	CN203464927U
专利状态	授权
申请号	CN201320558034.3
公开（公告）号	CN203464927U
IPC 分类号	G01C1/02
专利代理人	莫丹
代理机构	核工业专利中心
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/41282
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	北京航天计量测试技术研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	商秋芳,周玉堂,王震,等. 一种重合度测量装置. CN203464927U[P]. 2014-03-05.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN203464927U.PDF（385KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文