Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 一种大面积金属介质膜光栅衍射效率测量的装置 | |
| 其他题名 | 一种大面积金属介质膜光栅衍射效率测量的装置 |
| 邹文龙; 李朝明; 陈新荣; 蔡志坚; 吴建宏 | |
| 2018-06-19 | |
| 专利权人 | 苏州大学 |
| 公开日期 | 2018-06-19 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 摘要 | 本实用新型公开了一种大面积金属介质膜光栅衍射效率测量的装置，包括半导体激光器、斩波器、检测光系统、参考光系统和光电探测装置，装置的核心功能：采用多个波长的半导体激光器入射到金属介质膜光栅表面，检测光系统采集‑1级衍射光，并通过二维扫描大面积金属介质膜光栅，完成整个光栅面的衍射效率的测量。本新装置采用了双光路检测和斩波器，抑制激光器功率漂移和环境背景光干扰。 |
| 其他摘要 | 本实用新型公开了一种大面积金属介质膜光栅衍射效率测量的装置，包括半导体激光器、斩波器、检测光系统、参考光系统和光电探测装置，装置的核心功能：采用多个波长的半导体激光器入射到金属介质膜光栅表面，检测光系统采集‑1级衍射光，并通过二维扫描大面积金属介质膜光栅，完成整个光栅面的衍射效率的测量。本新装置采用了双光路检测和斩波器，抑制激光器功率漂移和环境背景光干扰。 |
| 授权日期 | 2018-06-19 |
| 申请日期 | 2017-11-27 |
| 专利号 | CN207515999U |
| 专利状态 | 授权 |
| 申请号 | CN201721608952 |
| 公开（公告）号 | CN207515999U |
| IPC 分类号 | G01M11/02 |
| 专利代理人 | 张欢勇 |
| 代理机构 | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40954 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 苏州大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 邹文龙,李朝明,陈新荣,等. 一种大面积金属介质膜光栅衍射效率测量的装置. CN207515999U[P]. 2018-06-19. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN207515999U.PDF（292KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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