Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
一种脉冲激光二极管的检测系统 | |
其他题名 | 一种脉冲激光二极管的检测系统 |
戴军; 徐威; 胡攀攀 | |
2018-06-12 | |
专利权人 | 武汉万集信息技术有限公司 |
公开日期 | 2018-06-12 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 实用新型 |
摘要 | 本实用新型公开一种脉冲激光二极管的检测系统,该系统由激光驱动模块、衰减片、接收放大模块、计时模块、数据统计和显示模块、供电模块组成,所述激光驱动模块驱动脉冲激光二极管发出光信号;所述衰减片衰减光信号;所述接收放大模块进行光‑电信号转换;所述计时模块输出并上传计时时间;所述数据统计和显示模块统计计时时间并分析其一致性,以判断脉冲激光二极管的性能,并将检测结果实时显示;所述供电模块给系统供电。本实用新型在不损坏接收器件的前提下,将激光驱动脉冲信号和接收放大模块接收信号作为计时起始信号和停止信号,进行多次计时,通过分析计时时间的一致性实现对脉冲激光二极管的性能测试,简单易行、成本低廉且可靠性高。 |
其他摘要 | 本实用新型公开一种脉冲激光二极管的检测系统,该系统由激光驱动模块、衰减片、接收放大模块、计时模块、数据统计和显示模块、供电模块组成,所述激光驱动模块驱动脉冲激光二极管发出光信号;所述衰减片衰减光信号;所述接收放大模块进行光‑电信号转换;所述计时模块输出并上传计时时间;所述数据统计和显示模块统计计时时间并分析其一致性,以判断脉冲激光二极管的性能,并将检测结果实时显示;所述供电模块给系统供电。本实用新型在不损坏接收器件的前提下,将激光驱动脉冲信号和接收放大模块接收信号作为计时起始信号和停止信号,进行多次计时,通过分析计时时间的一致性实现对脉冲激光二极管的性能测试,简单易行、成本低廉且可靠性高。 |
授权日期 | 2018-06-12 |
申请日期 | 2017-11-29 |
专利号 | CN207487945U |
专利状态 | 授权 |
申请号 | CN201721649308.4 |
公开(公告)号 | CN207487945U |
IPC 分类号 | G01M11/02 |
专利代理人 | - |
代理机构 | - |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40935 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 武汉万集信息技术有限公司 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 戴军,徐威,胡攀攀. 一种脉冲激光二极管的检测系统. CN207487945U[P]. 2018-06-12. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN207487945U.PDF(406KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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