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一种低功率半导体激光器测试装置
其他题名一种低功率半导体激光器测试装置
李雪玲; 韩越
2018-06-05
专利权人广州市赛保检测技术有限公司
公开日期2018-06-05
授权国家中国
专利类型实用新型
摘要本实用新型公开了一种低功率半导体激光器测试装置,包括外部壳体,所述外部壳体上端内部设置有测试主体,且测试主体右端内部安装有激光器测试插孔,所述外部壳体下端内部设置有回弹室,且回弹室内部右侧安装有回弹固定块,所述回弹固定块左侧后端安装有第二伸缩弹簧,且第二伸缩弹簧左侧连接有外部壳体,所述回弹固定块右端中部安装有架高杆,且架高杆上端内部设置有旋转通孔,所述旋转通孔内部连接有旋转连接块,且旋转连接块右侧安装有按压把手,所述旋转连接块左侧安装有激光器套筒,且激光器套筒左端连接有激光器测试插孔。该低功率半导体激光器测试装置无需人工握持激光器,且能够快速稳定的对准测试口,降低了劳动强度,提高了测试效率。
其他摘要本实用新型公开了一种低功率半导体激光器测试装置,包括外部壳体,所述外部壳体上端内部设置有测试主体,且测试主体右端内部安装有激光器测试插孔,所述外部壳体下端内部设置有回弹室,且回弹室内部右侧安装有回弹固定块,所述回弹固定块左侧后端安装有第二伸缩弹簧,且第二伸缩弹簧左侧连接有外部壳体,所述回弹固定块右端中部安装有架高杆,且架高杆上端内部设置有旋转通孔,所述旋转通孔内部连接有旋转连接块,且旋转连接块右侧安装有按压把手,所述旋转连接块左侧安装有激光器套筒,且激光器套筒左端连接有激光器测试插孔。该低功率半导体激光器测试装置无需人工握持激光器,且能够快速稳定的对准测试口,降低了劳动强度,提高了测试效率。
授权日期2018-06-05
申请日期2017-11-15
专利号CN207456737U
专利状态授权
申请号CN201721518325.4
公开(公告)号CN207456737U
IPC 分类号G01M11/00
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40907
专题半导体激光器专利数据库
作者单位广州市赛保检测技术有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
李雪玲,韩越. 一种低功率半导体激光器测试装置. CN207456737U[P]. 2018-06-05.
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CN207456737U.PDF(342KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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