半导体激光器测试系统环境温度控制装置

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	半导体激光器测试系统环境温度控制装置
其他题名	半导体激光器测试系统环境温度控制装置
	徐文贯; 马军; 张林杰; 黄俊华; 吴庆贤; 崔贵华; 罗军; 郑建福; 陈新苹
	2014-11-19
专利权人	广州赛宝仪器设备有限公司
公开日期	2014-11-19
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型半导体激光器测试系统环境温度控制装置，包括主箱体、空气循环与处理装置、冷却装置以及控制器，整个半导体激光器测试系统环境温度控制装置，结构简单、空气循环与处理装置对主箱体内温度进行调节，强迫/加快主箱体内空气流动提高动态温度响应效率，冷却装置能够直接带走半导体激光器测试系统在测试过程中产生的热量，避免过热影响半导体激光器测试系统的正常工作。本实用新型半导体激光器测试系统环境温度控制装置可提供一个稳定的试验环境，适合半导体激光器测试系统的环境温度控制，确保半导体激光器测试系统正常工作。
其他摘要	本实用新型半导体激光器测试系统环境温度控制装置，包括主箱体、空气循环与处理装置、冷却装置以及控制器，整个半导体激光器测试系统环境温度控制装置，结构简单、空气循环与处理装置对主箱体内温度进行调节，强迫/加快主箱体内空气流动提高动态温度响应效率，冷却装置能够直接带走半导体激光器测试系统在测试过程中产生的热量，避免过热影响半导体激光器测试系统的正常工作。本实用新型半导体激光器测试系统环境温度控制装置可提供一个稳定的试验环境，适合半导体激光器测试系统的环境温度控制，确保半导体激光器测试系统正常工作。
授权日期	2014-11-19
申请日期	2014-06-17
专利号	CN203950220U
专利状态	授权
申请号	CN201420324147.1
公开（公告）号	CN203950220U
IPC 分类号	G05D23/20
专利代理人	黄晓庆
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40894
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	广州赛宝仪器设备有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	徐文贯,马军,张林杰,等. 半导体激光器测试系统环境温度控制装置. CN203950220U[P]. 2014-11-19.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN203950220U.PDF（568KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文