半导体激光器测试系统

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	半导体激光器测试系统
其他题名	半导体激光器测试系统
	张丽雯; 陆耀东; 王涛; 任奕奕; 宋金鹏; 张玉莹
	2018-04-17
专利权人	北京光电技术研究所
公开日期	2018-04-17
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	本发明提供一种半导体激光器测试系统，包括多台测试仪、控制主机、测试仪电源线、测试仪供电电源、半导体激光器电源线和数据总线；每台测试仪与每个被测半导体激光器一一对应；每台测试仪通过数据总线与控制主机连接，通过测试仪电源线与测试仪供电电源连接，半导体激光器的电源受测试仪控制；测试仪包括处理器、存储器、功率传感器、电压传感器、电流传感器、温度传感器和制冷设备；处理器接收到控制主机发送的测试指令后断开与数据总线的电连接，控制上述各传感器进行参数数据采集，将参数数据处理结果存储在存储器中，实现了同时对多台半导体激光器的工作稳定性的高效、全面准确测试，且离线测试保证了长期测试过程中数据的安全可靠。
其他摘要	本发明提供一种半导体激光器测试系统，包括多台测试仪、控制主机、测试仪电源线、测试仪供电电源、半导体激光器电源线和数据总线；每台测试仪与每个被测半导体激光器一一对应；每台测试仪通过数据总线与控制主机连接，通过测试仪电源线与测试仪供电电源连接，半导体激光器的电源受测试仪控制；测试仪包括处理器、存储器、功率传感器、电压传感器、电流传感器、温度传感器和制冷设备；处理器接收到控制主机发送的测试指令后断开与数据总线的电连接，控制上述各传感器进行参数数据采集，将参数数据处理结果存储在存储器中，实现了同时对多台半导体激光器的工作稳定性的高效、全面准确测试，且离线测试保证了长期测试过程中数据的安全可靠。
授权日期	2018-04-17
申请日期	2015-05-15
专利号	CN104880298B
专利状态	授权
申请号	CN201510250455.3
公开（公告）号	CN104880298B
IPC 分类号	G01M11/00
专利代理人	张洋 \| 黄健
代理机构	北京同立钧成知识产权代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40711
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	北京光电技术研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	张丽雯,陆耀东,王涛,等. 半导体激光器测试系统. CN104880298B[P]. 2018-04-17.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN104880298B.PDF（161KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文