基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法及装置

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	基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法及装置
其他题名	基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法及装置
	陶波; 胡志云; 叶景峰; 张振荣; 王晟
	2018-04-06
专利权人	西北核技术研究所
公开日期	2018-04-06
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	本发明提供一种基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法，采用可调谐窄线宽二极管激光器波长扫描的方法同时测量F‑P腔透过率曲线和两条特征吸收谱线的吸收光谱，然后通过计数两条特征吸收谱线的谱线间隔内F‑P腔透过率曲线的干涉峰数量来实现F‑P腔自由光谱范围的测量。由于特征谱线的中心频率非常准确，达10‑6cm‑1，且不受测量环境及测量系统的影响，所以本发明创造有效的提高了F‑P腔自由光谱范围的测量精度，FSR的测量精度可优于10‑6cm‑1。此外，本发明创造的所有计算步骤均可通过计算机编程实现自动处理，易于操作。
其他摘要	本发明提供一种基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法，采用可调谐窄线宽二极管激光器波长扫描的方法同时测量F‑P腔透过率曲线和两条特征吸收谱线的吸收光谱，然后通过计数两条特征吸收谱线的谱线间隔内F‑P腔透过率曲线的干涉峰数量来实现F‑P腔自由光谱范围的测量。由于特征谱线的中心频率非常准确，达10‑6cm‑1，且不受测量环境及测量系统的影响，所以本发明创造有效的提高了F‑P腔自由光谱范围的测量精度，FSR的测量精度可优于10‑6cm‑1。此外，本发明创造的所有计算步骤均可通过计算机编程实现自动处理，易于操作。
授权日期	2018-04-06
申请日期	2016-11-07
专利号	CN106568507B
专利状态	授权
申请号	CN201610975142.9
公开（公告）号	CN106568507B
IPC 分类号	G01J3/36
专利代理人	汪海艳
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40643
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西北核技术研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	陶波,胡志云,叶景峰,等. 基于特征吸收谱线测量F‑P腔自由光谱范围的方法及装置. CN106568507B[P]. 2018-04-06.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN106568507B.PDF（131KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文