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一种半导体激光器老化测试装置
其他题名一种半导体激光器老化测试装置
于果蕾; 马崇彩; 邵慧慧; 刘成成; 孙素娟; 姚爽; 郑兆河; 肖成峰
2018-03-23
专利权人山东华光光电子股份有限公司
公开日期2018-03-23
授权国家中国
专利类型实用新型
摘要一种半导体激光器老化测试装置,包括:底座、N个凹槽、支撑板、电路板以及压合机构。由于电路板通过支撑板上的压合机构与COS芯片接触,因此减少了电路中的电阻值,确保电流稳定,使激光器更好的电接触。克服了传统弹簧针作为电流传导又作为按压激光器其产生较大的电阻,对电路造成分压,且由于接触不实可能造成电路不稳,损伤芯片的弊端。本半导体激光器老化测试装置操作简单、方便、老化效率高同时避免使用弹簧针。
其他摘要一种半导体激光器老化测试装置,包括:底座、N个凹槽、支撑板、电路板以及压合机构。由于电路板通过支撑板上的压合机构与COS芯片接触,因此减少了电路中的电阻值,确保电流稳定,使激光器更好的电接触。克服了传统弹簧针作为电流传导又作为按压激光器其产生较大的电阻,对电路造成分压,且由于接触不实可能造成电路不稳,损伤芯片的弊端。本半导体激光器老化测试装置操作简单、方便、老化效率高同时避免使用弹簧针。
授权日期2018-03-23
申请日期2017-08-31
专利号CN207133392U
专利状态授权
申请号CN201721104396.X
公开(公告)号CN207133392U
IPC 分类号G01R31/26
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40565
专题半导体激光器专利数据库
作者单位山东华光光电子股份有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
于果蕾,马崇彩,邵慧慧,等. 一种半导体激光器老化测试装置. CN207133392U[P]. 2018-03-23.
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