物体三维轮廓测量装置

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	物体三维轮廓测量装置
其他题名	物体三维轮廓测量装置
	张军; 周常河; 贾伟; 武腾飞
	2009-11-11
专利权人	中国科学院上海光学精密机械研究所
公开日期	2009-11-11
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	一种物体三维轮廓测量装置，该装置由激光二极管、透镜、小孔光阑、二维达曼光栅、柱面镜、面阵CCD相机、传输线和计算机构成，各部件的连接关系是：所述的激光二极管发出的光束依次经过透镜、小孔光阑、二维达曼光栅和柱面镜后，形成一维投影阵列条纹，照明待测目标的表面，由所述的面阵CCD相机采集被测量目标表面三维面形调制的光栅投影条纹，经传输线输入所述的计算机，所述计算机具有图像采集接口、图像采集软件和三维测量信息重建算法软件。本实用新型利用二维达曼光栅和柱面镜的傅立叶变换三维轮廓测量结构具有能量利用率高、测量结构简单、测量精度高、计算机重构信息处理简便和易于操作等优点。
其他摘要	一种物体三维轮廓测量装置，该装置由激光二极管、透镜、小孔光阑、二维达曼光栅、柱面镜、面阵CCD相机、传输线和计算机构成，各部件的连接关系是：所述的激光二极管发出的光束依次经过透镜、小孔光阑、二维达曼光栅和柱面镜后，形成一维投影阵列条纹，照明待测目标的表面，由所述的面阵CCD相机采集被测量目标表面三维面形调制的光栅投影条纹，经传输线输入所述的计算机，所述计算机具有图像采集接口、图像采集软件和三维测量信息重建算法软件。本实用新型利用二维达曼光栅和柱面镜的傅立叶变换三维轮廓测量结构具有能量利用率高、测量结构简单、测量精度高、计算机重构信息处理简便和易于操作等优点。
授权日期	2009-11-11
申请日期	2008-12-17
专利号	CN201344792Y
专利状态	失效
申请号	CN200820157252.5
公开（公告）号	CN201344792Y
IPC 分类号	G01B11/25
专利代理人	张泽纯
代理机构	上海新天专利代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40355
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院上海光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	张军,周常河,贾伟,等. 物体三维轮廓测量装置. CN201344792Y[P]. 2009-11-11.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN201344792Y.PDF（541KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文