Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
开放空间气体平均浓度测量装置及测量方法 | |
其他题名 | 开放空间气体平均浓度测量装置及测量方法 |
董作人; 刘铭晖; 孙延光; 蔡海文; 郁敏捷 | |
2017-12-15 | |
专利权人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
公开日期 | 2017-12-15 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 授权发明 |
摘要 | 一种开放空间气体平均浓度测量装置及测量方法,该装置包括半导体激光器、半导体激光器控制器、光纤耦合器、掺铒光纤放大器、光电探测器、光学收发天线、单模光纤以及数据处理单元;利用光腔衰荡技术,分别测量位于待测气体吸收光谱峰值处波长的激光与位于吸收光谱范围外波长的激光的腔衰荡时间,计算得到气体的吸收系数,再利用气体吸收系数与吸收截面和浓度的关系,计算求得气体的绝对浓度;同时,通过测量衰荡脉冲的时间间隔计算得到探测距离;已知开放空间内气体的积分浓度与探测距离计算得到气体的平均浓度;该方法具有测量灵敏度高,抗干扰能力强的特点。 |
其他摘要 | 一种开放空间气体平均浓度测量装置及测量方法,该装置包括半导体激光器、半导体激光器控制器、光纤耦合器、掺铒光纤放大器、光电探测器、光学收发天线、单模光纤以及数据处理单元;利用光腔衰荡技术,分别测量位于待测气体吸收光谱峰值处波长的激光与位于吸收光谱范围外波长的激光的腔衰荡时间,计算得到气体的吸收系数,再利用气体吸收系数与吸收截面和浓度的关系,计算求得气体的绝对浓度;同时,通过测量衰荡脉冲的时间间隔计算得到探测距离;已知开放空间内气体的积分浓度与探测距离计算得到气体的平均浓度;该方法具有测量灵敏度高,抗干扰能力强的特点。 |
授权日期 | 2017-12-15 |
申请日期 | 2015-07-09 |
专利号 | CN105067563B |
专利状态 | 授权 |
申请号 | CN201510398976.3 |
公开(公告)号 | CN105067563B |
IPC 分类号 | G01N21/39 |
专利代理人 | 张泽纯 | 张宁展 |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40244 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 董作人,刘铭晖,孙延光,等. 开放空间气体平均浓度测量装置及测量方法. CN105067563B[P]. 2017-12-15. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN105067563B.PDF(402KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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