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开放空间气体平均浓度测量装置及测量方法
其他题名开放空间气体平均浓度测量装置及测量方法
董作人; 刘铭晖; 孙延光; 蔡海文; 郁敏捷
2017-12-15
专利权人中国科学院上海光学精密机械研究所
公开日期2017-12-15
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要一种开放空间气体平均浓度测量装置及测量方法,该装置包括半导体激光器、半导体激光器控制器、光纤耦合器、掺铒光纤放大器、光电探测器、光学收发天线、单模光纤以及数据处理单元;利用光腔衰荡技术,分别测量位于待测气体吸收光谱峰值处波长的激光与位于吸收光谱范围外波长的激光的腔衰荡时间,计算得到气体的吸收系数,再利用气体吸收系数与吸收截面和浓度的关系,计算求得气体的绝对浓度;同时,通过测量衰荡脉冲的时间间隔计算得到探测距离;已知开放空间内气体的积分浓度与探测距离计算得到气体的平均浓度;该方法具有测量灵敏度高,抗干扰能力强的特点。
其他摘要一种开放空间气体平均浓度测量装置及测量方法,该装置包括半导体激光器、半导体激光器控制器、光纤耦合器、掺铒光纤放大器、光电探测器、光学收发天线、单模光纤以及数据处理单元;利用光腔衰荡技术,分别测量位于待测气体吸收光谱峰值处波长的激光与位于吸收光谱范围外波长的激光的腔衰荡时间,计算得到气体的吸收系数,再利用气体吸收系数与吸收截面和浓度的关系,计算求得气体的绝对浓度;同时,通过测量衰荡脉冲的时间间隔计算得到探测距离;已知开放空间内气体的积分浓度与探测距离计算得到气体的平均浓度;该方法具有测量灵敏度高,抗干扰能力强的特点。
授权日期2017-12-15
申请日期2015-07-09
专利号CN105067563B
专利状态授权
申请号CN201510398976.3
公开(公告)号CN105067563B
IPC 分类号G01N21/39
专利代理人张泽纯 | 张宁展
代理机构上海新天专利代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40244
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院上海光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
董作人,刘铭晖,孙延光,等. 开放空间气体平均浓度测量装置及测量方法. CN105067563B[P]. 2017-12-15.
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