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横梁弯曲衍射法测杨氏模量实验仪
其他题名横梁弯曲衍射法测杨氏模量实验仪
梁霄; 田源; 聂喻梅; 杨长中; 刘强
2009-10-21
专利权人重庆工学院
公开日期2009-10-21
授权国家中国
专利类型实用新型
摘要本实用新型涉及测杨氏模量实验仪,包括加力机构、挠度放大机构和测试衍射条纹分布的测试机构,加力机构由螺旋加力装置和拉力传感器组成,螺旋加力装置设于支架上,挠度放大机构包括产生狭缝的上刀口、下刀口和半导体激光器,测试对象中部与上刀口连接,测试对象两端定位于支架上,拉力传感器将螺旋加力装置和上刀口连接,下刀口安装于可调高度支撑架上。本实用新型与同类仪器相比解决了仪器稳定性方面的问题,测量对象范围更广,在测量精度上有很大的提高,精度可达到3%以内。可在很短的距离对衍射条纹进行测量,节约实验场地。
其他摘要本实用新型涉及测杨氏模量实验仪,包括加力机构、挠度放大机构和测试衍射条纹分布的测试机构,加力机构由螺旋加力装置和拉力传感器组成,螺旋加力装置设于支架上,挠度放大机构包括产生狭缝的上刀口、下刀口和半导体激光器,测试对象中部与上刀口连接,测试对象两端定位于支架上,拉力传感器将螺旋加力装置和上刀口连接,下刀口安装于可调高度支撑架上。本实用新型与同类仪器相比解决了仪器稳定性方面的问题,测量对象范围更广,在测量精度上有很大的提高,精度可达到3%以内。可在很短的距离对衍射条纹进行测量,节约实验场地。
授权日期2009-10-21
申请日期2009-01-06
专利号CN201331468Y
专利状态失效
申请号CN200920126037.3
公开(公告)号CN201331468Y
IPC 分类号G01N3/08
专利代理人李海华
代理机构重庆博凯知识产权代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40132
专题半导体激光器专利数据库
作者单位重庆工学院
推荐引用方式
GB/T 7714
梁霄,田源,聂喻梅,等. 横梁弯曲衍射法测杨氏模量实验仪. CN201331468Y[P]. 2009-10-21.
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文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN201331468Y.PDF(319KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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