一种测试夹具

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	一种测试夹具
其他题名	一种测试夹具
	张岩; 彭海涛; 杨红伟; 张世祖; 齐利芳
	2015-05-27
专利权人	中国电子科技集团公司第十三研究所
公开日期	2015-05-27
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型涉及半导体激光器芯片生产加工领域，具体公开了一种测试夹具，包括载台、盖板、挡板、滑轨、压块和绝缘软垫，待测试芯片置于盖板上，一侧与挡板接触，实现限位，盖板和挡板与载台固定连接；待测试芯片的上方设有压块，压块置于滑轨内并可上下活动，压块的下端设有绝缘软垫，绝缘软垫在与待测试芯片上电极接触的部位设有第一导电膜，盖板与待测试芯片的下电极接触的部位设有第二导电膜，第一导电膜和第二导电膜分别通过导线与测试仪连接。本实用新型还包括压紧机构，通过螺栓调节压力，第一导电膜与绝缘软垫之间设有压力传感器，通过压力传感器的读值调节测试压力。本装置不需频繁更换测试探针，提高测试效率，对测试芯片电极无损伤。
其他摘要	本实用新型涉及半导体激光器芯片生产加工领域，具体公开了一种测试夹具，包括载台、盖板、挡板、滑轨、压块和绝缘软垫，待测试芯片置于盖板上，一侧与挡板接触，实现限位，盖板和挡板与载台固定连接；待测试芯片的上方设有压块，压块置于滑轨内并可上下活动，压块的下端设有绝缘软垫，绝缘软垫在与待测试芯片上电极接触的部位设有第一导电膜，盖板与待测试芯片的下电极接触的部位设有第二导电膜，第一导电膜和第二导电膜分别通过导线与测试仪连接。本实用新型还包括压紧机构，通过螺栓调节压力，第一导电膜与绝缘软垫之间设有压力传感器，通过压力传感器的读值调节测试压力。本装置不需频繁更换测试探针，提高测试效率，对测试芯片电极无损伤。
授权日期	2015-05-27
申请日期	2015-01-29
专利号	CN204359829U
专利状态	授权
申请号	CN201520063820.5
公开（公告）号	CN204359829U
IPC 分类号	G01R1/04
专利代理人	米文智
代理机构	石家庄国为知识产权事务所
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/39874
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国电子科技集团公司第十三研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	张岩,彭海涛,杨红伟,等. 一种测试夹具. CN204359829U[P]. 2015-05-27.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN204359829U.PDF（809KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文