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一种用于转台六项几何误差测量方法
其他题名一种用于转台六项几何误差测量方法
石照耀; 宋辉旭; 陈洪芳; 孙衍强
2019-08-09
专利权人北京工业大学
公开日期2019-08-09
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要本发明公开了一种用于转台六项几何误差高效测量方法,该方法利用一个十二面棱镜,两个激光二极管和两个位置传感器测量转台的三个角度量误差(EAC,EBC,ECC);利用一个标准球,一个激光干涉仪,一个激光二极管和两个位置传感器测量转台的三个位移量误差(EXC,EYC,EZC)。在测量的过程中,测量装置同轴地固定在转台上,并且在转台的一次全周回转运动中,该测量方法能够将转台的六项几何误差一次性全部测量出来。本发明提供的转台六项几何误差高效测量方法能够有效地提高转台几何误差的测量效率。
其他摘要本发明公开了一种用于转台六项几何误差高效测量方法,该方法利用一个十二面棱镜,两个激光二极管和两个位置传感器测量转台的三个角度量误差(EAC,EBC,ECC);利用一个标准球,一个激光干涉仪,一个激光二极管和两个位置传感器测量转台的三个位移量误差(EXC,EYC,EZC)。在测量的过程中,测量装置同轴地固定在转台上,并且在转台的一次全周回转运动中,该测量方法能够将转台的六项几何误差一次性全部测量出来。本发明提供的转台六项几何误差高效测量方法能够有效地提高转台几何误差的测量效率。
授权日期2019-08-09
申请日期2017-09-21
专利号CN107490343B
专利状态授权
申请号CN201710861769.6
公开(公告)号CN107490343B
IPC 分类号G01B11/02 | G01B11/26
专利代理人沈波
代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38828
专题半导体激光器专利数据库
作者单位北京工业大学
推荐引用方式
GB/T 7714
石照耀,宋辉旭,陈洪芳,等. 一种用于转台六项几何误差测量方法. CN107490343B[P]. 2019-08-09.
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CN107490343B.PDF(748KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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