一种光纤光栅温度系数的测量装置及其测量方法

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	一种光纤光栅温度系数的测量装置及其测量方法
其他题名	一种光纤光栅温度系数的测量装置及其测量方法
	沈华; 关智文; 汤亚洲; 朱日宏; 韩志刚; 矫岢蓉; 舒剑; 卓烜; 葛诗雨
	2019-06-07
专利权人	南京理工大学
公开日期	2019-06-07
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	本发明公开了一种光纤光栅温度系数测量装置及其测量方法，包括光纤激光器、多模泵浦+信号光合束器、红外热像仪、剥离器和N个半导体激光器，将光纤激光器的低反光栅的一端引出与剥离器的一端熔接，剥离器的另一端和N个半导体激光器分别与多模泵浦+信号光合束器的信号输入端熔接，待测光纤光栅一端与多模泵浦+信号光合束器的信号输出端熔接，另一端斜切，红外热像仪扫描待测光纤光栅。通过仅打开半导体激光器、仅打开光纤激光器和同时打开光纤激光器和半导体激光器三种模式，实时测量待测光纤光栅的温度系数，分析待测光纤光栅发热原因并进行相应的处理。
其他摘要	本发明公开了一种光纤光栅温度系数测量装置及其测量方法，包括光纤激光器、多模泵浦+信号光合束器、红外热像仪、剥离器和N个半导体激光器，将光纤激光器的低反光栅的一端引出与剥离器的一端熔接，剥离器的另一端和N个半导体激光器分别与多模泵浦+信号光合束器的信号输入端熔接，待测光纤光栅一端与多模泵浦+信号光合束器的信号输出端熔接，另一端斜切，红外热像仪扫描待测光纤光栅。通过仅打开半导体激光器、仅打开光纤激光器和同时打开光纤激光器和半导体激光器三种模式，实时测量待测光纤光栅的温度系数，分析待测光纤光栅发热原因并进行相应的处理。
授权日期	2019-06-07
申请日期	2018-02-05
专利号	CN108414089B
专利状态	授权
申请号	CN201810109757.2
公开（公告）号	CN108414089B
IPC 分类号	G01J5/00
专利代理人	朱沉雁
代理机构	南京理工大学专利中心
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38570
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	南京理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	沈华,关智文,汤亚洲,等. 一种光纤光栅温度系数的测量装置及其测量方法. CN108414089B[P]. 2019-06-07.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN108414089B.PDF（311KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文