半导体激光器数值孔径自动测试设备

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	半导体激光器数值孔径自动测试设备
其他题名	半导体激光器数值孔径自动测试设备
	文少剑; 黄海翔; 廖东升
	2019-04-23
专利权人	深圳市杰普特光电股份有限公司
公开日期	2019-04-23
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	一种半导体激光器数值孔径自动测试设备，包括工作台、功率检测装置、光纤移动装置、及连接功率检测装置的数据处理装置；功率检测装置包括光功率计探头、安装在光功率计探头上的光阑、及连接光功率计探头的功率采集器；数据处理装置连接功率采集器，并读取功率采集器的功率检测数据；光纤移动装置包括位移控制机构，位移控制机构包括导轨组件、滑动设置在导轨组件上的位移台、及驱动位移台相对导轨组件移动的驱动组件。通过光纤移动装置对输出光纤进行移动，及功率采集装置对输出光纤的输出功率进行检测，数据处理装置根据输出光纤与光阑之间的距离分析得出半导体激光器输出的最大数值孔径的具体大小，从而自动完成最大数值孔径的测量。
其他摘要	一种半导体激光器数值孔径自动测试设备，包括工作台、功率检测装置、光纤移动装置、及连接功率检测装置的数据处理装置；功率检测装置包括光功率计探头、安装在光功率计探头上的光阑、及连接光功率计探头的功率采集器；数据处理装置连接功率采集器，并读取功率采集器的功率检测数据；光纤移动装置包括位移控制机构，位移控制机构包括导轨组件、滑动设置在导轨组件上的位移台、及驱动位移台相对导轨组件移动的驱动组件。通过光纤移动装置对输出光纤进行移动，及功率采集装置对输出光纤的输出功率进行检测，数据处理装置根据输出光纤与光阑之间的距离分析得出半导体激光器输出的最大数值孔径的具体大小，从而自动完成最大数值孔径的测量。
授权日期	2019-04-23
申请日期	2018-09-03
专利号	CN208780433U
专利状态	授权
申请号	CN201821438158.7
公开（公告）号	CN208780433U
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	王宁
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38428
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	深圳市杰普特光电股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	文少剑,黄海翔,廖东升. 半导体激光器数值孔径自动测试设备. CN208780433U[P]. 2019-04-23.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN208780433U.PDF（1252KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文