一种低功率半导体激光器测试设备

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	一种低功率半导体激光器测试设备
其他题名	一种低功率半导体激光器测试设备
	刘增红; 常浩; 薛良
	2019-01-22
专利权人	拓闻(天津)电子科技有限公司
公开日期	2019-01-22
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型公开了一种低功率半导体激光器测试设备，包括底架、U型板、待测激光器、滑轨、衰减片、滤光片、成像屏、支撑板、CCD摄像机、计算机、滑块、U型杆、卡齿和齿条，所述底架顶部固定连接有U型板，所述U型板内嵌入安装有待测激光器，所述底架顶部位于待测激光器一侧开设有方形槽，所述方形槽内设有滑轨，所述滑轨两端分别与对应的方形槽一侧内壁固定连接，所述底架顶部位于方形槽上方依次设有衰减片和滤光片，所述衰减片和滤光片底部均固定连接有滑块，所述滑块均套在滑块外侧，且滑块与滑轨滑动连接，所述滑块与底架垂直的一侧均开设有U型槽，该设备准直效果好，检测方便，可以准确的检测出激光器的稳定性。
其他摘要	本实用新型公开了一种低功率半导体激光器测试设备，包括底架、U型板、待测激光器、滑轨、衰减片、滤光片、成像屏、支撑板、CCD摄像机、计算机、滑块、U型杆、卡齿和齿条，所述底架顶部固定连接有U型板，所述U型板内嵌入安装有待测激光器，所述底架顶部位于待测激光器一侧开设有方形槽，所述方形槽内设有滑轨，所述滑轨两端分别与对应的方形槽一侧内壁固定连接，所述底架顶部位于方形槽上方依次设有衰减片和滤光片，所述衰减片和滤光片底部均固定连接有滑块，所述滑块均套在滑块外侧，且滑块与滑轨滑动连接，所述滑块与底架垂直的一侧均开设有U型槽，该设备准直效果好，检测方便，可以准确的检测出激光器的稳定性。
授权日期	2019-01-22
申请日期	2018-08-10
专利号	CN208420674U
专利状态	授权
申请号	CN201821291148.5
公开（公告）号	CN208420674U
IPC 分类号	G01N21/01 \| G01N21/84
专利代理人	姚艳
代理机构	北京沁优知识产权代理事务所(普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/38095
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	拓闻(天津)电子科技有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	刘增红,常浩,薛良. 一种低功率半导体激光器测试设备. CN208420674U[P]. 2019-01-22.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN208420674U.PDF（392KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文