一种线扫描机器视觉测量装置

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	一种线扫描机器视觉测量装置
其他题名	一种线扫描机器视觉测量装置
	丁海鹏; 王国安; 孙久春; 吴伟锋; 周飞
	2018-12-25
专利权人	海伯森技术(深圳)有限公司
公开日期	2018-12-25
授权国家	中国
专利类型	实用新型
摘要	本实用新型公开了一种线扫描机器视觉测量装置，包括半导体激光器、发射透镜组、接收透镜组和光电探测器，所述半导体激光器和发射透镜组共轴依次排列在被测物体的前端，形成发射端；所述接收透镜组和光电探测器与接收端共面并形成接收端；所述半导体激光器的激光束经过发射透镜组的整形，照射在被测物体上的三个位置A0、B0和C0，被测物体上的三个位置A0、B0和C0的反射光线经过倾斜和偏心设置的接收透镜组后在光电探测器上形成相对应的光斑位置A1、B1和C1。实现了高精度的微小位移测量，发射部分相当于激光整形系统，其光斑既细又长，性能稳定且成本低，实现了对物体表面轮廓的测量。
其他摘要	本实用新型公开了一种线扫描机器视觉测量装置，包括半导体激光器、发射透镜组、接收透镜组和光电探测器，所述半导体激光器和发射透镜组共轴依次排列在被测物体的前端，形成发射端；所述接收透镜组和光电探测器与接收端共面并形成接收端；所述半导体激光器的激光束经过发射透镜组的整形，照射在被测物体上的三个位置A0、B0和C0，被测物体上的三个位置A0、B0和C0的反射光线经过倾斜和偏心设置的接收透镜组后在光电探测器上形成相对应的光斑位置A1、B1和C1。实现了高精度的微小位移测量，发射部分相当于激光整形系统，其光斑既细又长，性能稳定且成本低，实现了对物体表面轮廓的测量。
授权日期	2018-12-25
申请日期	2018-04-03
专利号	CN208283557U
专利状态	授权
申请号	CN201820457239
公开（公告）号	CN208283557U
IPC 分类号	G01S17/08
专利代理人	李中华
代理机构	苏州中合知识产权代理事务所(普通合伙)
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/37963
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	海伯森技术(深圳)有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	丁海鹏,王国安,孙久春,等. 一种线扫描机器视觉测量装置. CN208283557U[P]. 2018-12-25.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN208283557U.PDF（416KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文