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Complex coupling MQW semiconductor laser
其他题名Complex coupling MQW semiconductor laser
KOBAYASHI, HIROHIKO; ISHIKAWA, TSUTOMU; SHOJI, HAJIME
2005-02-01
专利权人FUJITSU LIMITED
公开日期2005-02-01
授权国家美国
专利类型授权发明
摘要A method of manufacturing a distributed feedback semiconductor laser, has the steps of: growing on a semiconductor substrate a lamination of alternately stacked lower barrier layer and lower well layer having a band gap narrower than the lower barrier layer, to form a lower quantum well structure; growing an intermediate layer on an uppermost lower well layer, the intermediate layer having a band gap broader than the lower well and a thickness thicker than the lower barrier layer; growing on the intermediate layer a lamination of alternately stacked upper well layer and upper barrier layer having a band gap broader than the upper well layer and a thickness thinner than the intermediate layer, to form an upper quantum well structure; forming a mask on the upper quantum well structure, the mask having periodical pattern; by using the mask as an etching mask, etching the upper quantum well structure in a periodical shape by using the intermediate layer as an etching margin layer; and removing the mask. Complex coupling DFB lasers with a small variation in characteristics can be provided.
其他摘要一种制造分布式反馈半导体激光器的方法,具有以下步骤:在半导体衬底上生长交替堆叠的下部阻挡层和下部阱层的叠层,所述下部阱层具有比下部阻挡层窄的带隙,以形成下部量子阱结构;在最上面的下部阱层上生长中间层,中间层具有比下部阱宽的带隙,并且厚度比下部阻挡层厚;在中间层上生长交替堆叠的上阱层和上势垒层的叠层,其具有比上阱层宽的带隙和比中间层薄的厚度,以形成上量子阱结构;在上量子阱结构上形成掩模,掩模具有周期性图案;通过使用掩模作为蚀刻掩模,通过使用中间层作为蚀刻边缘层,以周期性形状蚀刻上量子阱结构;并删除面具。可以提供具有小的特性变化的复合耦合DFB激光器。
授权日期2005-02-01
申请日期2001-03-14
专利号US6850550
专利状态授权
申请号US09/805182
公开(公告)号US6850550
IPC 分类号H01S5/00 | H01S5/12 | H01S5/20 | H01L29/06 | H01S3/08
专利代理人-
代理机构WESTERMAN,HATTORI,DANIELS & ADRIAN,LLP
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/35396
专题半导体激光器专利数据库
作者单位FUJITSU LIMITED
推荐引用方式
GB/T 7714
KOBAYASHI, HIROHIKO,ISHIKAWA, TSUTOMU,SHOJI, HAJIME. Complex coupling MQW semiconductor laser. US6850550[P]. 2005-02-01.
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