Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 半導体レーザの特性測定装置 | |
| 其他题名 | 半導体レーザの特性測定装置 |
| 清水 研一 | |
| 2007-12-28 | |
| 专利权人 | 株式会社リコー |
| 公开日期 | 2008-03-12 |
| 授权国家 | 日本 |
| 专利类型 | 授权发明 |
| 摘要 | 【課題】 電流-光出力特性やカップリング効率を精度よく測定できる半導体レーザの特性測定装置を提供する。 【解決手段】 本発明の測定装置は、単体の半導体レーザ4又は半導体レーザユニット5を測定対象として取付け可能な測定ヘッド1と、測定ヘッド1に取付けた測定対象からの出射光を受光する受光素子2と、受光素子2を出射光の光軸に交わる方向からその光軸上の測定位置へ進退させる受光ステージ3と、を有し、上記光軸方向における測定対象と受光素子との相対的な位置関係を可変にする光軸方向変位手段8を備えた構成である。 |
| 其他摘要 | 要解决的问题：为半导体激光器提供一种特性测量装置，精确测量电流 - 光输出特性和耦合效率。解决方案：该测量装置设置有测量头1，该测量头可以安装单个半导体激光器4或半导体激光器单元作为测量目标，光接收元件2接收来自安装到测量头1的测量目标的辐射光，光接收台3使光接收元件2从与辐射光的光轴交叉的方向前进/后退到光轴上的测量位置，光轴方向移动装置8改变测量目标之间的相对位置关系光接收元件在光轴方向上。 |
| 授权日期 | 2007-12-28 |
| 申请日期 | 2000-04-24 |
| 专利号 | JP4061009B2 |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | JP2000122885 |
| 公开（公告）号 | JP4061009B2 |
| IPC 分类号 | G01M11/00 | H01S5/00 | G01M | H01S | H01S5/062 |
| 专利代理人 | 鈴木 均 |
| 代理机构 | - |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/35346 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 株式会社リコー |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 清水 研一. 半導体レーザの特性測定装置. JP4061009B2[P]. 2007-12-28. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| JP4061009B2.PDF（51KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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