一種雷射二極體之電性參數及其光形、發散角測試方法

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	一種雷射二極體之電性參數及其光形、發散角測試方法
其他题名	一種雷射二極體之電性參數及其光形、發散角測試方法
	洪榮澤; 許廷煒; 謝和銘; 葉庭弼; 洪志蒼; 廖展漣
	2006-03-01
专利权人	友嘉科技股份有限公司
公开日期	2006-03-01
授权国家	中国台湾
专利类型	授权发明
摘要	本發明係提供一種雷射二極體之電性參數及其光形、發散角測試方法，係指一種可提升雙波長雷射二極體其電性參數及其光形、發散角之特性響應測試效率，其包含： (一)雷射二極體之電性參數測試，其係對一第一受測元件(如：波長a雷射二極體)輸入一測試訊號，進行第一階段脈衝量測時，係於該第一受測元件距下一階段脈衝量測間，再其對一第二受測元件(如：波長b雷射二極體)輸入另一測試訊號，進行該第二受測元件之第一階段脈衝量測，俾使透過間歇交替量測之方式，進可有效縮減總整體特性響應量測所需時間； (二)雷射二極體之光形、發散角測試，其係可於旋轉量測桿上搭配應用一組或一組以上之光二極體進行量測，俾使應用一組光二極體量測下，將一驅動電流以交替方式分別輸入給予第一受測元件(如：波長a雷射二極體)與第二受測元件(如：波長b雷射二極體)，使其該旋轉量測桿於掃描量測過程中，可區別記錄第一、二受測元件其交替發出之光形發散角響應值，進達有效縮減總整體量測所需時間。
其他摘要	本發明係提供一種雷射二極體之電性參數及其光形、發散角測試方法，係指一種可提升雙波長雷射二極體其電性參數及其光形、發散角之特性響應測試效率，其包含： (一)雷射二極體之電性參數測試，其係對一第一受測元件(如：波長a雷射二極體)輸入一測試訊號，進行第一階段脈衝量測時，係於該第一受測元件距下一階段脈衝量測間，再其對一第二受測元件(如：波長b雷射二極體)輸入另一測試訊號，進行該第二受測元件之第一階段脈衝量測，俾使透過間歇交替量測之方式，進可有效縮減總整體特性響應量測所需時間； (二)雷射二極體之光形、發散角測試，其係可於旋轉量測桿上搭配應用一組或一組以上之光二極體進行量測，俾使應用一組光二極體量測下，將一驅動電流以交替方式分別輸入給予第一受測元件(如：波長a雷射二極體)與第二受測元件(如：波長b雷射二極體)，使其該旋轉量測桿於掃描量測過程中，可區別記錄第一、二受測元件其交替發出之光形發散角響應值，進達有效縮減總整體量測所需時間。
申请日期	2005-05-18
专利号	TWI250707B
专利状态	失效
申请号	TW094116139
公开（公告）号	TWI250707B
IPC 分类号	H01S5/00 \| G01R31/00
专利代理人	林宜宏
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34617
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	友嘉科技股份有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	洪榮澤,許廷煒,謝和銘,等. 一種雷射二極體之電性參數及其光形、發散角測試方法. TWI250707B[P]. 2006-03-01.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
TWI250707B.PDF（1188KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文