Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
光変調装置及び光ファイバ測定装置 | |
其他题名 | 光変調装置及び光ファイバ測定装置 |
坂入 良幸 | |
2012-09-28 | |
专利权人 | 横河電機株式会社 |
公开日期 | 2012-12-05 |
授权国家 | 日本 |
专利类型 | 授权发明 |
摘要 | 【課題】変調器からの漏れ光を極力小さくすることで、高いパワーを有するパルス光を得ることができる光変調装置、及び当該装置を備える光ファイバ測定装置を提供する。 【解決手段】光変調装置1は、連続光L1を出力する光源11、光源11からの連続光L1をパルス信号S1に基づいて変調してパルス光を生成するLN変調器12、LN変調器12からのパルス光を増幅する光ファイバアンプ13、増幅されたパルス光の一部を受光して受光信号R1に変換する光電変換器15、及び光電変換器15からの受光信号R1が最大となるようにLN変調器12に印加するバイアス電圧V1を制御するバイアス制御回路16を備える。 【選択図】図1 |
其他摘要 | 要解决的问题:提供一种能够通过最小化来自调制器的泄漏光来获得具有高功率的脉冲光的光调制装置,以及包括该装置的光纤测量装置。 光调制装置1包括输出连续光L1的光源11,基于脉冲信号S1调制来自光源11的连续光L1以产生脉冲光的LN调制器12,LN调制器12用于放大来自光电转换器15的脉冲光的光纤放大器13,用于接收放大的脉冲光的一部分以将其转换成接收光信号R1的光电转换器15和来自光电转换器15的光接收信号R1被最大化并且偏置控制电路16用于控制施加到LN调制器12的偏置电压V 1。 点域1 |
申请日期 | 2008-06-09 |
专利号 | JP5092910B2 |
专利状态 | 授权 |
申请号 | JP2008150362 |
公开(公告)号 | JP5092910B2 |
IPC 分类号 | G01M11/00 | G02F1/03 |
专利代理人 | 志賀 正武 | 高橋 詔男 | 渡邊 隆 | 鈴木 三義 | 西 和哉 | 村山 靖彦 |
代理机构 | - |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34515 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 横河電機株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 坂入 良幸. 光変調装置及び光ファイバ測定装置. JP5092910B2[P]. 2012-09-28. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
JP5092910B2.PDF(51KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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