OPT OpenIR  > 瞬态光学研究室
一种双光路调试合束方法
李珣; 李明; 刘红军
2019-12-03
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2019-12-03
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及一种双光路调试合束方法,解决现有激光合束方式无法实现两路光线精准合束的问题。该方法包括以下步骤:1)调节光路一;1.1)调节光路一光斑居中;1.2)粗调光路一水平度及垂直度;1.3)精调光路一水平度及垂直度;2)调节光路二;2.1)调节光路二光斑居中;2.2)粗调光路二水平度及垂直度;2.3)精调光路二水平度及垂直度;3)合束及检测;3.1)将光路一和光路二合束;3.2)合束检测。
授权日期2019-12-03
申请日期2018-12-24
专利号CN201811584843.5
语种中文
专利状态已授权
申请号CN201811584843.5
公开(公告)号CN109664018B
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31973
专题瞬态光学研究室
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
李珣,李明,刘红军. 一种双光路调试合束方法. CN201811584843.5[P]. 2019-12-03.
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一种双光路调试合束方法.pdf(344KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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