一种双光路调试合束方法及系统

OPT OpenIR > 瞬态光学研究室

	一种双光路调试合束方法及系统
	李珣; 李明; 刘红军
	2018-12-24
专利权人	中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期	2019-04-23
授权国家	中国
专利类型	发明专利
产权排序	1
摘要	本发明涉及一种双光路调试合束方法及系统，解决现有激光合束方式无法实现两路光线精准合束的问题。该方法包括以下步骤：1)调节光路一；1.1)调节光路一光斑居中；1.2)粗调光路一水平度及垂直度；1.3)精调光路一水平度及垂直度；2)调节光路二；2.1)调节光路二光斑居中；2.2)粗调光路二水平度及垂直度；2.3)精调光路二水平度及垂直度；3)合束及检测；3.1)将光路一和光路二合束；3.2)合束检测。
主权项	一种双光路调试合束方法，其特征在于，包括以下步骤： 1)调节光路一； 1)调节光路一光斑居中，使光斑在光路中的任一光学元件表面均是从其中心入射及出射； 2)粗调光路一水平度及垂直度，调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路一的水平度、垂直度的调节； 3)精调光路一水平度及垂直度，采用高精度观察仪器观察，调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路一的水平度、垂直度的调节； 2)调节光路二； 2.1)调节光路二光斑居中，使光斑在光路中的任一光学元件表面均是从其中心入射及出射； 2.2)粗调光路二水平度及垂直度，调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路二的水平度、垂直度的调节； 2.3)精调光路二水平度及垂直度，采用高精度观察仪器观察，通过调整光路中其中之几或全部元器件的三维空间姿态，实现对光路二的水平度、垂直度的调节； 3)合束及检测； 3.1)将光路一和光路二合束； 3.2)合束检测；采用高精度观察仪器检测是否合束，若没有实现合束，则通过调整双光楔姿态，进行光束一和光束二的合束。
申请日期	2018-12-24
专利号	CN201811584843.5
语种	中文
专利状态	申请中
申请号	CN201811584843.5
公开（公告）号	CN109664018A
IPC 分类号	B23K26/06 ; B23K26/064
专利代理人	郑丽红
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31733
专题	瞬态光学研究室
作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	李珣,李明,刘红军. 一种双光路调试合束方法及系统. CN201811584843.5[P]. 2018-12-24.

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