一种迈克尔逊干涉仪图像条纹宽度检测方法及系统 | |
张耿; 李思远; 胡炳樑; 张周锋; 张宏建; 刘欢 | |
2018-09-14 | |
专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
公开日期 | 2019-03-01 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明专利 |
产权排序 | 1 |
摘要 | 本发明涉及一种迈克尔逊干涉仪图像条纹宽度检测方法及系统。本发明的核心技术在于通过干涉图像自动检测干涉圆环,并计算亮暗圆环的宽度。包括干涉图像的自适应二值分割,连通区域的计算与筛选,椭圆连通区域的提取,椭圆中心以及长短轴比例的确定,同心椭圆拟合以及亮暗状态确定,椭圆环干涉条纹状态计算等。本发明通过检测同心圆环的宽度,可以计算出迈克尔逊干涉仪的光程差情况,并反演光谱信息,同时确认干涉仪状态是否稳定。 |
主权项 | 一种迈克尔逊干涉仪图像条纹宽度检测方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一:采用自适应二值分割方法,从干涉图样的原始图像上分离亮干涉椭圆环像素,得到前景二值图像; 步骤二:对步骤一获得的前景二值图像进行空洞填充及轮廓优化; 步骤三:检测及标记步骤二优化后前景二值图像中的连通区域; 步骤四:使用形态学运算方法对步骤三检测及标记的连通区域内部进行空洞填充; 步骤五:计算步骤四处理后的每一个被标记的连通区域的中心位置及半长轴与半短轴比例,根据得到的每一个被标记的连通区域的中心位置及半长轴与半短轴比例计算干涉椭圆环中心位置以及半长轴与半短轴比例; 步骤六:根据步骤五的计算结果拟合椭圆及判断拟合后椭圆的亮暗,每个椭圆对应一个编号; 步骤七:依次搜索步骤六拟合的所有椭圆,根据搜索的椭圆亮度获取每个干涉椭圆环的起始椭圆与终止椭圆;即获得每个干涉椭圆环起始椭圆与终止椭圆的位置;根据每个干涉椭圆环起始椭圆与终止椭圆的位置计算干涉椭圆环的宽度。 |
申请日期 | 2018-09-14 |
专利号 | CN201811074539.6 |
语种 | 中文 |
专利状态 | 申请中 |
申请号 | CN201811074539.6 |
公开(公告)号 | CN109405979A |
IPC 分类号 | G01J9/02 |
专利代理人 | 汪海艳 |
代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31706 |
专题 | 光谱成像技术研究室 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
第一作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张耿,李思远,胡炳樑,等. 一种迈克尔逊干涉仪图像条纹宽度检测方法及系统. CN201811074539.6[P]. 2018-09-14. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
一种迈克尔逊干涉仪图像条纹宽度检测方法及(2279KB) | 专利 | 限制开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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