| 精密工件的圆柱度非接触式测量装置及方法 |
| 解来运 ; 贾乃勋
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| 2018-12-14
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| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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| 公开日期 | 2019-04-05
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明专利
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| 产权排序 | 1
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| 摘要 | 本发明属于圆柱度测量领域，特别是涉及一种精密工件的圆柱度非接触式测量装置及方法，解决现有精密工件圆柱度的测量方法对工件本身造成损伤，表面留有微小划痕，以及误差较大的问题。该装置包括转台和设置在转台侧面的两组柱面自准直仪；所述转台用于固定被测圆柱工件，且被测圆柱工件与转台同轴；每组所述柱面自准直仪包括线光源、分光元件、准直柱面镜及标准柱面镜头；所述线光源的出射光依次经过分光元件、准直柱面镜、标准柱面镜头变为会聚线光束，所述会聚线光束的焦线位于转台的转轴位置；所述会聚线光束经被测圆柱工件表面反射，沿原路返回，经分光元件被光敏感器接收。 |
| 主权项 | 一种精密工件的圆柱度非接触式测量装置，其特征在于：包括转台(2)和设置在转台(2)侧面的两组柱面自准直仪；
所述转台(2)用于固定被测圆柱工件(1)，且被测圆柱工件(1)与转台(2)同轴；
每组所述柱面自准直仪包括线光源(7)、分光元件(5)、准直柱面镜(4)及标准柱面镜头(3)；
所述线光源(7)的出射光依次经过分光元件(5)、准直柱面镜(4)、标准柱面镜头(3)变为会聚线光束，所述会聚线光束的焦线位于转台(2)的转轴位置；
所述会聚线光束经被测圆柱工件(1)表面反射，沿原路返回，经分光元件(5)被光敏感器(6)接收。 |
| 申请日期 | 2018-12-14
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| 专利号 | CN201811537110.6
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 申请中
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| 申请号 | CN201811537110.6
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| 公开（公告）号 | CN109579736A
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| 专利代理人 | 董娜
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| 代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31683
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| 专题 | 光学定向与测量技术研究室
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| 作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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| 第一作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
解来运,贾乃勋. 精密工件的圆柱度非接触式测量装置及方法. CN201811537110.6[P]. 2018-12-14.
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