一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置

OPT OpenIR > 先进光学仪器研究室

	一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置
	余建成; 张伟刚; 寇经纬; 王彦超; 眭越
	2019-06-28
专利权人	中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期	2019-06-28
授权国家	中国
专利类型	实用新型
产权排序	1
摘要	为解决现有探测装置动态范围小、信噪比低、可靠性较低、集成度低、功耗较大的问题，本实用新型提供了一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置，包括置于真空腔体中的像元尺寸大于13um，读出噪声小于5e‑，响应非均匀性小于1％的CCD芯片；为CCD芯片提供工作电压、根据设定参数为CCD芯片提供正确的驱动信号和驱动时序，及控制CCD芯片正常工作的CCD驱动单元；低噪声的信号调理转换单元；用于存储信号调理转换单元输出数字信号的数据存储单元；用于控制CCD驱动单元、信号调理转换单元、数据存储单元工作，及接收、解析、响应、执行上位机命令的控制单元；用于对CCD芯片进行制冷的制冷单元。本实用新型具有信噪比高、动态范围大、可靠性高、功耗低的优点。
主权项	一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置，其特征在于，包括：CCD芯片，用于进行激光探测以及光电转换，最终输出模拟电信号；所述CCD芯片的像元尺寸大于13um，读出噪声小于5e-，响应非均匀性小于1％；CCD芯片置于真空腔体中； CCD驱动单元，为CCD芯片提供工作电压、根据设定参数为CCD芯片提供正确的驱动信号和驱动时序，以及控制CCD芯片正常工作；信号调理转换单元，采用低噪声设计，用于将CCD芯片输出的模拟电信号进行放大、调理和模数转换，进而输出数字信号；数据存储单元，用于存储信号调理转换单元输出的数字信号；控制单元，用于控制CCD驱动单元、信号调理转换单元、数据存储单元工作，以及接收、解析、响应、执行来自上位机的命令；通信单元，用于实现控制单元与上位机之间的数据通信功能；制冷单元，与控制单元相连，用于对CCD芯片进行制冷。
授权日期	2019-06-28
申请日期	2018-11-05
专利号	CN201821811105.5
语种	中文
专利状态	已授权
申请号	CN201821811105.5
公开（公告）号	CN209043456U
IPC 分类号	G01J1/42 ; G01J1/44
专利代理人	杨引雪
代理机构	西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31654
专题	先进光学仪器研究室
作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	余建成,张伟刚,寇经纬,等. 一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探测装置. CN201821811105.5[P]. 2019-06-28.

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一种用于高功率激光测量的制冷型高信噪比探（1393KB）	专利		限制开放	CC BY-NC-SA	请求全文