Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
一种穆勒矩阵测量系统及方法 | |
其他题名 | 一种穆勒矩阵测量系统及方法 |
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2018-11-30 | |
专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
公开日期 | 2018-11-30 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明专利 |
产权排序 | 1 |
摘要 | 本发明提出一种新的穆勒矩阵测量系统及方法,能够高效、准确地测量目标的Mueller矩阵。该测量系统包括:沿光路依次设置的光源系统、起偏系统、待测目标以及检偏系统和计算机处理系统;起偏系统包括沿入射光路依次设置的垂直线偏振片、第一液晶相位延迟器以及第二液晶相位延迟器,两个液晶相位延迟器的快轴与水平方向夹角分别为45°和90°;检偏系统为分孔径全偏振态同时探测的偏振相机,光源系统满足:最终经待测目标出射的偏振光覆盖所述偏振相机的全部光通道;计算机处理系统用于控制加载在两个液晶相位延迟器上的电压以实现入射在待测目标上光的偏振态的调制,并保存相机采集到的强度图,根据光强值计算穆勒矩阵。 |
主权项 | 一种穆勒矩阵测量系统,其特征在于,包括:沿光路依次设置的光源系统、起偏系统、待测目标以及检偏系统和计算机处理系统; 所述起偏系统包括沿入射光路依次设置的垂直线偏振片、第一液晶相位延迟器以及第二液晶相位延迟器,两个液晶相位延迟器的快轴与水平方向夹角分别为45°和90°; 所述检偏系统为分孔径全偏振态同时探测的偏振相机,所述光源系统满足:最终经待测目标出射的偏振光覆盖所述偏振相机的全部光通道; 所述计算机处理系统用于控制加载在两个液晶相位延迟器上的电压以实现入射在待测目标上光的偏振态的调制,并保存相机采集到的强度图,根据光强值计算穆勒矩阵。 |
授权日期 | 2018-11-30 |
申请日期 | 2018-06-01 |
专利号 | CN201810558462.3 |
语种 | 中文 |
专利状态 | 申请中 |
申请号 | CN201810558462.3 |
PCT属性 | 否 |
公开(公告)号 | CN108918425A |
IPC 分类号 | G01N21/21 |
专利代理人 | 胡乐 |
代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30918 |
专题 | 热控技术研究室_其它单位_其它部门 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
第一作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 巨海娟,梁健,任立勇,等. 一种穆勒矩阵测量系统及方法. CN201810558462.3[P]. 2018-11-30. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
2018105584623.pdf(2107KB) | 专利 | 限制开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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