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采用纳米银焊膏烧结互连技术的中高压IGBT模块及其性能表征
梅云辉1,2; 冯晶晶1; 王晓敏1; 陆国权1; 张朋3; 林仲康3
作者部门瞬态光学技术国家重点实验室
2017-10-13
发表期刊高电压技术
ISSN1003-6520
期号10页码:3307-3312
产权排序2
收录类别GCJC
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29467
专题瞬态光学研究室
作者单位1.天津大学材料科学与工程学院
2.中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室
3.全球能源互联网研究院
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
梅云辉,冯晶晶,王晓敏,等. 采用纳米银焊膏烧结互连技术的中高压IGBT模块及其性能表征[J]. 高电压技术,2017(10):3307-3312.
APA 梅云辉,冯晶晶,王晓敏,陆国权,张朋,&林仲康.(2017).采用纳米银焊膏烧结互连技术的中高压IGBT模块及其性能表征.高电压技术(10),3307-3312.
MLA 梅云辉,et al."采用纳米银焊膏烧结互连技术的中高压IGBT模块及其性能表征".高电压技术 .10(2017):3307-3312.
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