| 高功率激光远场焦斑测试用纹影器件 | |
达争尚 ; 李红光; 董晓娜; 孙策
| |
| 2014-03-26 | |
| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2012-06-06 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 摘要 | 本发明涉及一种高功率激光远场焦斑测试用纹影器件，包括挡光片以及设置于挡光片外部的透光罩。本发明提供了一种挡光效果好，耐激光辐照以及不会对测量造成任何影响的高功率激光远场焦斑测试用纹影器件。 |
| 申请日期 | 2010-12-01 |
| 专利号 | CN102486405 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 已授权 |
| 申请号 | CN201010568941 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/21712 |
| 专题 | 先进光学仪器研究室 |
| 作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 达争尚,李红光,董晓娜,等. 高功率激光远场焦斑测试用纹影器件. CN102486405[P]. 2014-03-26. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 高功率激光远场焦斑测试用纹影器件.pdf（194KB） | 专利 | 限制开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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