| 电子产品表面控温热真空试验方法 |
| 杨文刚; 贺天兵; 王英豪; 孙益善; 李英才
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| 2011-09-27
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| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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| 公开日期 | 2012-06-20
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| 专利类型 | 发明
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| 产权排序 | 1
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| 摘要 | 本发明提供一种电子产品表面控温热真空试验方法，主要解决了多台电子产品同时试验时各产品不能够全部达到目标温度，并在允差范围内以及同一产品表面温度不均匀的问题。该电子产品表面控温热真空试验方法，包括以下步骤：1]确定产品表面热功率2]制备产品表面加热器3]进行产品试验。通过本发明提供的电子产品表面控温热真空试验方法，电子产品表面升降温速率可控，能够满足较大的升降温速率要求，能有效的缩短试验时间、减少试验经费和降低试验能耗。 |
| 申请日期 | 2011-09-27
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| 专利号 | CN102507227
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| 申请号 | CN201110289191
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/21680
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| 专题 | 空间光学技术研究室
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
杨文刚,贺天兵,王英豪,等. 电子产品表面控温热真空试验方法. CN102507227[P]. 2011-09-27.
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