OPT OpenIR  > 瞬态光学研究室
测量波像差的系统
赵卫; 张周锋; 谢永军; 康福增
2013-12-25
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2013-12-25
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型涉及一种测量波像差的系统,包括干涉仪以及与干涉仪处于同一光路上的平面反射系统;待测光学系统置于干涉仪和平面反射系统之间;平面反射系统是液体反射镜;干涉仪、待测光学系统以及液体反射镜自上而下依次设置在同一光路上。本实用新型提供了一种不仅可用来检测小口径光学系统波像差,同样适用于大口径光学系统波像差检测的系统。
申请日期2013-06-09
专利号CN203365912
申请号CN201320339373
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/21600
专题瞬态光学研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
赵卫,张周锋,谢永军,等. 测量波像差的系统. CN203365912[P]. 2013-12-25.
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测量波像差的系统.pdf(212KB) 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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