| 可调波片式偏振干涉成像光谱仪 | |
| 马臻; 李英才; 李旭阳 | |
| 2013-05-14 | |
| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2013-08-28 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明涉及一种可调波片式偏振干涉成像光谱仪，包括第一检偏器、延迟量调节装置、第二检偏器以及光学成像探测系统；第一检偏器、延迟量调节装置以及第二检偏器依次设置在同一光轴上；光学成像探测系统与第二检偏器设置在同一光路上。本发明提供了一种结构简单且体积重量大幅减小的可调波片式偏振干涉成像光谱仪。 |
| 申请日期 | 2013-05-14 |
| 专利号 | CN103267573 |
| 申请号 | CN201310178591 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/21414 |
| 专题 | 空间光学技术研究室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马臻,李英才,李旭阳. 可调波片式偏振干涉成像光谱仪. CN103267573[P]. 2013-05-14. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 可调波片式偏振干涉成像光谱仪.pdf（449KB） | 限制开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | |||
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