OPT OpenIR  > 瞬态光学研究室
高精度光纤长度测量系统
梁健; 任立勇; 屈恩世
2013-01-16
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型提供一种高精度光纤长度测量系统。现有的光纤长度测量系统OTDR具有测量精度低,设备庞大并且不能测短距离光纤的缺点;OFDR和OLCR具有造价昂贵、稳定性不高等缺点。本实用新型可以克服以上这些缺点。本实用新型主要由激光光源发射出的连续光经电光调制器调制出时域短脉冲信号,经过光分束器,一束光进入光环行器、待测光纤和法拉第旋转镜进入探测器;另一束直接进入探测器。通过分别测量未接入待测光纤和接入待测光纤的时间差,可以精确测量光纤的长度。测量精度可达厘米量级,并且系统简单,稳定性高。
申请日期2012-03-09
专利号CN202676133
申请号CN201220086728
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/21304
专题瞬态光学研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
梁健,任立勇,屈恩世. 高精度光纤长度测量系统. CN202676133[P]. 2013-01-16.
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高精度光纤长度测量系统.pdf(209KB) 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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