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基于光纤光栅的微波扫描单边带调制法测量光纤布里渊散射特性
刘玉; 任立勇; 忽满利; 梁健; 韩旭; 马成举
作者部门瞬态光学与光子技术国家重点实验室
2012-01
发表期刊中国激光
ISSN0258-7205
卷号39期号:1页码:0105002
产权排序2
摘要利用光纤布拉格光栅(FBG)和马赫-曾德尔电光调制器实现了单边带光调制输出。基于微波扫描的单边带调制技术提出了一种测量光纤受激布里渊散射(SBS)特性的方法,可有效地将布里渊频移与布里渊增益谱的测量统一起来。对一段50m长的光子晶体光纤(PCF)的SBS特性进行了测量,得到了PCF的SBS谱的布里渊频移为9.7443GHz,布里渊增益谱线宽为22.472MHz,布里渊增益系数为7.874×10-12 m/W。
学科领域光学
收录类别EI
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/20571
专题瞬态光学研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
刘玉,任立勇,忽满利,等. 基于光纤光栅的微波扫描单边带调制法测量光纤布里渊散射特性[J]. 中国激光,2012,39(1):0105002.
APA 刘玉,任立勇,忽满利,梁健,韩旭,&马成举.(2012).基于光纤光栅的微波扫描单边带调制法测量光纤布里渊散射特性.中国激光,39(1),0105002.
MLA 刘玉,et al."基于光纤光栅的微波扫描单边带调制法测量光纤布里渊散射特性".中国激光 39.1(2012):0105002.
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刘玉 基于光纤光栅的微波扫描单边带调制法(2226KB) 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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