OPT OpenIR  > 光电跟踪与测量技术研究室
The research of attack angle measurment of projectile with CCD vertical target system
Xu Wei1,2; Wang M(王苗)1
2011-12
会议名称2011 International Conference on Advanced in Control Engineering and Information Science
会议录名称Procedia Engineering Vol 15
会议日期August 18-19, 2011
会议地点Dali, China
会议主办者CEIS 2011 Organizing Committee
出版者Elsevier Ltd
产权排序1
关键词Ccd Vertical Target Attack Angle Measurement Analysis Of Accuracy
学科领域电子光学仪器
作者部门光电测量技术实验室
收录类别EI
语种英语
ISSN号1877-7058
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/14360
专题光电跟踪与测量技术研究室
作者单位1.Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Science, Xi'an, 710119, China
2.Graduate University of Chinese Academy of Science, Beijing, 100039, China
推荐引用方式
GB/T 7714
Xu Wei,Wang M. The research of attack angle measurment of projectile with CCD vertical target system[C]:Elsevier Ltd,2011.
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