OPT OpenIR  > 光谱成像技术研究室
A new quality metric for compressed images based on DDCT
Lu Wen; Li Jing; Tao Dacheng; Gao Xinbo; Li Xuelong(李学龙)
2010
会议名称Visual Communications and Image Processing 2010
会议录名称Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
页码77440C
会议日期2010-07-11
会议地点Huangshan, China
出版地P.O. Box 10, Bellingham, WA 98227-0010, United States
会议主办者National Natural Science Foundation of China (NSFC); Chinese Academy of Sciences; Huawei Technologies Company, Ltd.; Microsoft Research Asia
出版者SPIE
学科领域物理科学和化学
作者部门光学影像分析与学习中心
收录类别EI
ISBN号9780819482341
语种英语
ISSN号0277786X
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/14304
专题光谱成像技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
Lu Wen,Li Jing,Tao Dacheng,et al. A new quality metric for compressed images based on DDCT[C]. P.O. Box 10, Bellingham, WA 98227-0010, United States:SPIE,2010:77440C.
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