一种多光程干涉仪
魏儒义; 周锦松; 张学敏; 周泗忠
2011-07-13
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2011-07-13
授权国家中国
专利类型外观设计
申请日期2010-12-06
专利号CN201020644128.9
语种中文
专利状态受理
申请号CN201020644128.9
专利代理人商宇科
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/13714
专题中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
魏儒义,周锦松,张学敏,等. 一种多光程干涉仪. CN201020644128.9[P]. 2011-07-13.
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