基于LASIS的高分辨率高光谱成像仪光学系统设计及杂光分析

OPT OpenIR > 中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前)

	基于LASIS的高分辨率高光谱成像仪光学系统设计及杂光分析
	李研
学位类型	硕士
导师	王忠厚, 白加光
	2009-06-01
学位授予单位	中国科学院西安光学精密机械研究所.
学位专业	光学工程
关键词	光谱成像仪 R-c系统二级光谱 Sagnac横向剪切干涉仪杂散光分析
摘要	光谱成像是一种将光谱分析技术与图像处理技术相结合的技术，是近年来的研究热点，已成功地应用于航空航天遥感和军事侦察领域以及农业、灾害监测等方面。高光谱成像仪能够在连续谱段上对同一目标成像，可直接反映出被观测物体的光谱特征，甚至物体表面物质的成分。本文在分析了干涉式光谱成像仪原理的基础上，结合一种基于LASIS的高光谱成像仪展开研究，主要研究内容包括： 1. 为高光谱成像仪设计一套光学系统。首先，根据高光谱成像仪前置镜长焦距、小视场、宽谱段的指标，提出3种基本光学系统，通过比较确定R-C型式的反射结构为前置镜的基本结构型式。结合像差理论确定R-C系统的初始结构，并引入校正板获得最终优化结果。接下来，设计高光谱成像仪的准直镜和成像镜，通过更换玻璃，降低二级光谱色差。最后，根据高光谱成像仪光学系统的要求，设计一种Sagnac横向剪切干涉仪。推导了干涉仪剪切量和错位量的计算方法，并用作图法确定Sagnac干涉仪几何尺寸，整套光学系统成像质量佳。 2. 对高光谱成像仪的系统结构进行杂散光分析。首先结合高光谱成像仪进行消杂光设计，为R-C前置镜设计了遮光罩和挡光环。然后根据杂光分析的一般步骤，用杂光分析软件TracePro进行光机系统建模，计算了0.5~40°不同离轴角度的点源透过率。像面照度的分析结果表明，该系统满足杂光抑制指标。
学科领域	光学工程
页数	76
语种	中文
文献类型	学位论文
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/12294
专题	中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前)
推荐引用方式 GB/T 7714	李研. 基于LASIS的高分辨率高光谱成像仪光学系统设计及杂光分析[D]. 中国科学院西安光学精密机械研究所.,2009.

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